Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films

The optical absorption edge of nanocrystalline films of cubic silicon carbide polytype (nc-SlC) obtained by direct ion deposition have been studied using optical spectroscopy. Within the 1.12-6.5 eV, three optical absorption regions have been found with different (exponential, power, and oscillating...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2009
Автори: Lopin, A.V., Semenov, A.V., Puzikov, V.M., Skorik, S.N.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2009
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136626
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films // A.V. Lopin, A.V. Semenov, V.M. Puzikov, S.N. Skorik // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 36-40. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862594884837310464
author Lopin, A.V.
Semenov, A.V.
Puzikov, V.M.
Skorik, S.N.
author_facet Lopin, A.V.
Semenov, A.V.
Puzikov, V.M.
Skorik, S.N.
citation_txt Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films // A.V. Lopin, A.V. Semenov, V.M. Puzikov, S.N. Skorik // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 36-40. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.
collection DSpace DC
container_title Functional Materials
description The optical absorption edge of nanocrystalline films of cubic silicon carbide polytype (nc-SlC) obtained by direct ion deposition have been studied using optical spectroscopy. Within the 1.12-6.5 eV, three optical absorption regions have been found with different (exponential, power, and oscillating) dependences of the film absorption coefficient on the photon energy. Basing on the proposed structure model, the spectral dependence of absorption coefficient has been related to the defect states of nc-SlC, to direct and indirect optical interband transitions, and with dimensional quantization effects. Методом оптичної спектроскопії досліджено край оптичного поглинання нанокристалічних плівок кубічного політипу карбіду кремнію (nc-SiC), одержаних методом прямого іонного осадження. У діапазоні 1,12-6,5 еВ виділено три області оптичного поглинання з різною залежністю коефіцієнта поглинання плівок від енергії фотона: експоненціальною, степеневою та осциляційною. На основі запропонованої структурної моделі плівок спектральна залежність коефіцієнта поглинання пов'язується з дефектними станами nc-SiC, з оптичними прямими та непрямими міжзонними переходами та з ефектами розмірного квантування. Методом оптической спектроскопии изучен край оптического поглощения нанокристаллических плёнок кубического политипа карбида кремния (nc-SiC), полученных методом прямого ионного осаждения. В диапазоне 1,12-6,5 эВ выделены три области оптического поглощения с различной зависимостью коэффициента поглощения пленок от энергии фотона: экспоненциальной, степенной и осциллирующей. На основе предложенной структурной модели плёнок спектральная зависимость коэффициента поглощения связывается с дефектными состояниями nc-SiC, с оптическими прямыми и непрямыми межзонными переходами и эффектами размерного квантования.
first_indexed 2025-11-27T12:56:08Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-136626
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 1027-5495
language English
last_indexed 2025-11-27T12:56:08Z
publishDate 2009
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
record_format dspace
spelling Lopin, A.V.
Semenov, A.V.
Puzikov, V.M.
Skorik, S.N.
2018-06-16T14:37:24Z
2018-06-16T14:37:24Z
2009
Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films // A.V. Lopin, A.V. Semenov, V.M. Puzikov, S.N. Skorik // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 1. — С. 36-40. — Бібліогр.: 20 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136626
The optical absorption edge of nanocrystalline films of cubic silicon carbide polytype (nc-SlC) obtained by direct ion deposition have been studied using optical spectroscopy. Within the 1.12-6.5 eV, three optical absorption regions have been found with different (exponential, power, and oscillating) dependences of the film absorption coefficient on the photon energy. Basing on the proposed structure model, the spectral dependence of absorption coefficient has been related to the defect states of nc-SlC, to direct and indirect optical interband transitions, and with dimensional quantization effects.
Методом оптичної спектроскопії досліджено край оптичного поглинання нанокристалічних плівок кубічного політипу карбіду кремнію (nc-SiC), одержаних методом прямого іонного осадження. У діапазоні 1,12-6,5 еВ виділено три області оптичного поглинання з різною залежністю коефіцієнта поглинання плівок від енергії фотона: експоненціальною, степеневою та осциляційною. На основі запропонованої структурної моделі плівок спектральна залежність коефіцієнта поглинання пов'язується з дефектними станами nc-SiC, з оптичними прямими та непрямими міжзонними переходами та з ефектами розмірного квантування.
Методом оптической спектроскопии изучен край оптического поглощения нанокристаллических плёнок кубического политипа карбида кремния (nc-SiC), полученных методом прямого ионного осаждения. В диапазоне 1,12-6,5 эВ выделены три области оптического поглощения с различной зависимостью коэффициента поглощения пленок от энергии фотона: экспоненциальной, степенной и осциллирующей. На основе предложенной структурной модели плёнок спектральная зависимость коэффициента поглощения связывается с дефектными состояниями nc-SiC, с оптическими прямыми и непрямыми межзонными переходами и эффектами размерного квантования.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Characterization and properties
Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
Край поглинання нанокристалічних плівок кубічного карбіду кремнію
Article
published earlier
spellingShingle Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
Lopin, A.V.
Semenov, A.V.
Puzikov, V.M.
Skorik, S.N.
Characterization and properties
title Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
title_alt Край поглинання нанокристалічних плівок кубічного карбіду кремнію
title_full Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
title_fullStr Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
title_full_unstemmed Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
title_short Absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
title_sort absorption edge of nanocrystalline cubic silicon carbide films
topic Characterization and properties
topic_facet Characterization and properties
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/136626
work_keys_str_mv AT lopinav absorptionedgeofnanocrystallinecubicsiliconcarbidefilms
AT semenovav absorptionedgeofnanocrystallinecubicsiliconcarbidefilms
AT puzikovvm absorptionedgeofnanocrystallinecubicsiliconcarbidefilms
AT skoriksn absorptionedgeofnanocrystallinecubicsiliconcarbidefilms
AT lopinav kraipoglinannânanokristalíčnihplívokkubíčnogokarbídukremníû
AT semenovav kraipoglinannânanokristalíčnihplívokkubíčnogokarbídukremníû
AT puzikovvm kraipoglinannânanokristalíčnihplívokkubíčnogokarbídukremníû
AT skoriksn kraipoglinannânanokristalíčnihplívokkubíčnogokarbídukremníû