Kulyk, S., Melnichenko, M., Svezhentsova, K., & Shmyryova, O. (2008). Study of nanostructured layers of single-crystal silicon by scanning tunnel spectroscopy. Functional Materials.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Kulyk, S.P, M.M Melnichenko, K.V Svezhentsova, та O.M Shmyryova. "Study of Nanostructured Layers of Single-crystal Silicon by Scanning Tunnel Spectroscopy." Functional Materials 2008.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Kulyk, S.P, et al. "Study of Nanostructured Layers of Single-crystal Silicon by Scanning Tunnel Spectroscopy." Functional Materials, 2008.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.