TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ magnetic granular films below the percolation threshold (х < 0.45) have been studied using tunneling magnetoresistance (TMR), magnetorefractive effect (MRE),
 and X-ray photoelectron spectroscopy. Maximum magnetoresistance ratio of 3.7 % at room temperature was...
Saved in:
| Published in: | Functional Materials |
|---|---|
| Date: | 2005 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137251 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films / V.G. Kravets, L.V. Poperenko, K.L. Vinnichenko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 328-333. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862623811223945216 |
|---|---|
| author | Kravets, V.G. Poperenko, L.V. Vinnichenko, K.L. |
| author_facet | Kravets, V.G. Poperenko, L.V. Vinnichenko, K.L. |
| citation_txt | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films / V.G. Kravets, L.V. Poperenko, K.L. Vinnichenko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 328-333. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ magnetic granular films below the percolation threshold (х < 0.45) have been studied using tunneling magnetoresistance (TMR), magnetorefractive effect (MRE),
and X-ray photoelectron spectroscopy. Maximum magnetoresistance ratio of 3.7 % at room temperature was observed for films of Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅ composition. Both the experimental and theoretical analysis reveal a correlation between TMR and MRE, thus demonstrating the usage possibility of the MRE as a contactless method to measure the TMR. The chemical surface structure was analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and compared to that of the corresponding Si0₂ and Fe surfaces. The XPS spectra of Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ granular films display two main peaks at 707 and 720 eV, which arise from Fe 2р₃/₂ and Fe 2р₁/₂, respectively, and a small peak appears around 710.5 eV due to Fe₂0₃.
Магнитные гранулированные пленки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ с содержанием металла ниже порога перколяции изучены с помощью туннельного магнитосопротивления, магниторефрактивного эффекта и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Максимальное значение магнитосопротивления 3,7 % при комнатной температуре было обнаружено для пленок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Экспериментальные результаты и теоретический анализ показывают корреляцию между туннельным магнитосопротивлением (ТМС) и магниторефрактивным эффектом (МРЭ), что позволяет использовать МРЭ в качестве бесконтактного метода измерения ТМС. Химический состав поверхности пленок проанализирован с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС) и проведено его сравнение с поверхностями Si0₂ и Fe. РФС спектры гранулированных пленок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуются двумя полосами, локализованными при энергиях 707 и 720 эВ, которые связаны с Fe 2р₃/₂ и Fe 2р₁/₂ энергетическими уровнями. Также наблюдался незначительный пик при 710,5 эВ благодаря вкладу Fe₂0₃.
Магнiтнi гранулярнi плiвки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ iз змiстом металу, нижчим за перколяцiйний порiг, дослiджувались за допомогою тунельного магнiтоопору, магнiторефрактивного ефекту та рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї. Максимальне значення магнiтоопору 3,7 % при кiмнатнiй температурi було знайдено для плiвок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Експериментальнi результати та теоретичний аналiз показують кореляцiю мiж тунельним магнiтоопором (ТМО) та магнiторефрактивним ефектом (МРЕ). Це дозволяє використовувати МРЕ для безконтактного вимiрювання ТМО. Хiмiчний склад поверхнi плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ аналiзувався за допомогою рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї (РФС) та порiвнювався з даними для поверхонь Si0₂ i Fe. РФС-спектри гранульованих плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуються двома смугами при енергiях 707 та 720 еВ, якi вiдповiдають енергетичним рiвням Fe 2р₃/₂ та Fe 2р₁/₂. Також спостерiгався незначний максимум при 710,5 еВ завдяки внеску Fe₂0₃.
|
| first_indexed | 2025-12-07T13:30:21Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-137251 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T13:30:21Z |
| publishDate | 2005 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Kravets, V.G. Poperenko, L.V. Vinnichenko, K.L. 2018-06-17T09:22:50Z 2018-06-17T09:22:50Z 2005 TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films / V.G. Kravets, L.V. Poperenko, K.L. Vinnichenko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 328-333. — Бібліогр.: 14 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137251 Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ magnetic granular films below the percolation threshold (х < 0.45) have been studied using tunneling magnetoresistance (TMR), magnetorefractive effect (MRE),
 and X-ray photoelectron spectroscopy. Maximum magnetoresistance ratio of 3.7 % at room temperature was observed for films of Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅ composition. Both the experimental and theoretical analysis reveal a correlation between TMR and MRE, thus demonstrating the usage possibility of the MRE as a contactless method to measure the TMR. The chemical surface structure was analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and compared to that of the corresponding Si0₂ and Fe surfaces. The XPS spectra of Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ granular films display two main peaks at 707 and 720 eV, which arise from Fe 2р₃/₂ and Fe 2р₁/₂, respectively, and a small peak appears around 710.5 eV due to Fe₂0₃. Магнитные гранулированные пленки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ с содержанием металла ниже порога перколяции изучены с помощью туннельного магнитосопротивления, магниторефрактивного эффекта и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Максимальное значение магнитосопротивления 3,7 % при комнатной температуре было обнаружено для пленок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Экспериментальные результаты и теоретический анализ показывают корреляцию между туннельным магнитосопротивлением (ТМС) и магниторефрактивным эффектом (МРЭ), что позволяет использовать МРЭ в качестве бесконтактного метода измерения ТМС. Химический состав поверхности пленок проанализирован с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС) и проведено его сравнение с поверхностями Si0₂ и Fe. РФС спектры гранулированных пленок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуются двумя полосами, локализованными при энергиях 707 и 720 эВ, которые связаны с Fe 2р₃/₂ и Fe 2р₁/₂ энергетическими уровнями. Также наблюдался незначительный пик при 710,5 эВ благодаря вкладу Fe₂0₃. Магнiтнi гранулярнi плiвки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ iз змiстом металу, нижчим за перколяцiйний порiг, дослiджувались за допомогою тунельного магнiтоопору, магнiторефрактивного ефекту та рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї. Максимальне значення магнiтоопору 3,7 % при кiмнатнiй температурi було знайдено для плiвок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Експериментальнi результати та теоретичний аналiз показують кореляцiю мiж тунельним магнiтоопором (ТМО) та магнiторефрактивним ефектом (МРЕ). Це дозволяє використовувати МРЕ для безконтактного вимiрювання ТМО. Хiмiчний склад поверхнi плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ аналiзувався за допомогою рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї (РФС) та порiвнювався з даними для поверхонь Si0₂ i Fe. РФС-спектри гранульованих плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуються двома смугами при енергiях 707 та 720 еВ, якi вiдповiдають енергетичним рiвням Fe 2р₃/₂ та Fe 2р₁/₂. Також спостерiгався незначний максимум при 710,5 еВ завдяки внеску Fe₂0₃. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films ТМО, МРЕ та рентгенівська фотоелектронна спектроскопія гранулярних плівок Feₓ(SiO₂)₁₋ₓ Article published earlier |
| spellingShingle | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films Kravets, V.G. Poperenko, L.V. Vinnichenko, K.L. |
| title | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films |
| title_alt | ТМО, МРЕ та рентгенівська фотоелектронна спектроскопія гранулярних плівок Feₓ(SiO₂)₁₋ₓ |
| title_full | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films |
| title_fullStr | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films |
| title_full_unstemmed | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films |
| title_short | TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films |
| title_sort | tmr, mre, and x-ray photoelectron spectroscopy of fe-sio₂ granular films |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137251 |
| work_keys_str_mv | AT kravetsvg tmrmreandxrayphotoelectronspectroscopyoffesio2granularfilms AT poperenkolv tmrmreandxrayphotoelectronspectroscopyoffesio2granularfilms AT vinnichenkokl tmrmreandxrayphotoelectronspectroscopyoffesio2granularfilms AT kravetsvg tmomretarentgenívsʹkafotoelektronnaspektroskopíâgranulârnihplívokfexsio21x AT poperenkolv tmomretarentgenívsʹkafotoelektronnaspektroskopíâgranulârnihplívokfexsio21x AT vinnichenkokl tmomretarentgenívsʹkafotoelektronnaspektroskopíâgranulârnihplívokfexsio21x |