TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films

TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films

Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ magnetic granular films below the percolation threshold (х < 0.45) have been studied using tunneling magnetoresistance (TMR), magnetorefractive effect (MRE), and X-ray photoelectron spectroscopy. Maximum magnetoresistance ratio of 3.7 % at room temperature was observed for...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2005
Автори: Kravets, V.G., Poperenko, L.V., Vinnichenko, K.L.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2005
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137251
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films / V.G. Kravets, L.V. Poperenko, K.L. Vinnichenko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 328-333. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-137251
record_format dspace
spelling Kravets, V.G.
Poperenko, L.V.
Vinnichenko, K.L.
2018-06-17T09:22:50Z
2018-06-17T09:22:50Z
2005
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films / V.G. Kravets, L.V. Poperenko, K.L. Vinnichenko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 328-333. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137251
Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ magnetic granular films below the percolation threshold (х < 0.45) have been studied using tunneling magnetoresistance (TMR), magnetorefractive effect (MRE), and X-ray photoelectron spectroscopy. Maximum magnetoresistance ratio of 3.7 % at room temperature was observed for films of Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅ composition. Both the experimental and theoretical analysis reveal a correlation between TMR and MRE, thus demonstrating the usage possibility of the MRE as a contactless method to measure the TMR. The chemical surface structure was analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and compared to that of the corresponding Si0₂ and Fe surfaces. The XPS spectra of Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ granular films display two main peaks at 707 and 720 eV, which arise from Fe 2р₃/₂ and Fe 2р₁/₂, respectively, and a small peak appears around 710.5 eV due to Fe₂0₃.
Магнитные гранулированные пленки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ с содержанием металла ниже порога перколяции изучены с помощью туннельного магнитосопротивления, магниторефрактивного эффекта и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Максимальное значение магнитосопротивления 3,7 % при комнатной температуре было обнаружено для пленок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Экспериментальные результаты и теоретический анализ показывают корреляцию между туннельным магнитосопротивлением (ТМС) и магниторефрактивным эффектом (МРЭ), что позволяет использовать МРЭ в качестве бесконтактного метода измерения ТМС. Химический состав поверхности пленок проанализирован с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС) и проведено его сравнение с поверхностями Si0₂ и Fe. РФС спектры гранулированных пленок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуются двумя полосами, локализованными при энергиях 707 и 720 эВ, которые связаны с Fe 2р₃/₂ и Fe 2р₁/₂ энергетическими уровнями. Также наблюдался незначительный пик при 710,5 эВ благодаря вкладу Fe₂0₃.
Магнiтнi гранулярнi плiвки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ iз змiстом металу, нижчим за перколяцiйний порiг, дослiджувались за допомогою тунельного магнiтоопору, магнiторефрактивного ефекту та рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї. Максимальне значення магнiтоопору 3,7 % при кiмнатнiй температурi було знайдено для плiвок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Експериментальнi результати та теоретичний аналiз показують кореляцiю мiж тунельним магнiтоопором (ТМО) та магнiторефрактивним ефектом (МРЕ). Це дозволяє використовувати МРЕ для безконтактного вимiрювання ТМО. Хiмiчний склад поверхнi плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ аналiзувався за допомогою рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї (РФС) та порiвнювався з даними для поверхонь Si0₂ i Fe. РФС-спектри гранульованих плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуються двома смугами при енергiях 707 та 720 еВ, якi вiдповiдають енергетичним рiвням Fe 2р₃/₂ та Fe 2р₁/₂. Також спостерiгався незначний максимум при 710,5 еВ завдяки внеску Fe₂0₃.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
ТМО, МРЕ та рентгенівська фотоелектронна спектроскопія гранулярних плівок Feₓ(SiO₂)₁₋ₓ
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
spellingShingle TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
Kravets, V.G.
Poperenko, L.V.
Vinnichenko, K.L.
title_short TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
title_full TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
title_fullStr TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
title_full_unstemmed TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films
title_sort tmr, mre, and x-ray photoelectron spectroscopy of fe-sio₂ granular films
author Kravets, V.G.
Poperenko, L.V.
Vinnichenko, K.L.
author_facet Kravets, V.G.
Poperenko, L.V.
Vinnichenko, K.L.
publishDate 2005
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt ТМО, МРЕ та рентгенівська фотоелектронна спектроскопія гранулярних плівок Feₓ(SiO₂)₁₋ₓ
description Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ magnetic granular films below the percolation threshold (х < 0.45) have been studied using tunneling magnetoresistance (TMR), magnetorefractive effect (MRE), and X-ray photoelectron spectroscopy. Maximum magnetoresistance ratio of 3.7 % at room temperature was observed for films of Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅ composition. Both the experimental and theoretical analysis reveal a correlation between TMR and MRE, thus demonstrating the usage possibility of the MRE as a contactless method to measure the TMR. The chemical surface structure was analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and compared to that of the corresponding Si0₂ and Fe surfaces. The XPS spectra of Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ granular films display two main peaks at 707 and 720 eV, which arise from Fe 2р₃/₂ and Fe 2р₁/₂, respectively, and a small peak appears around 710.5 eV due to Fe₂0₃. Магнитные гранулированные пленки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ с содержанием металла ниже порога перколяции изучены с помощью туннельного магнитосопротивления, магниторефрактивного эффекта и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Максимальное значение магнитосопротивления 3,7 % при комнатной температуре было обнаружено для пленок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Экспериментальные результаты и теоретический анализ показывают корреляцию между туннельным магнитосопротивлением (ТМС) и магниторефрактивным эффектом (МРЭ), что позволяет использовать МРЭ в качестве бесконтактного метода измерения ТМС. Химический состав поверхности пленок проанализирован с помощью рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФС) и проведено его сравнение с поверхностями Si0₂ и Fe. РФС спектры гранулированных пленок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуются двумя полосами, локализованными при энергиях 707 и 720 эВ, которые связаны с Fe 2р₃/₂ и Fe 2р₁/₂ энергетическими уровнями. Также наблюдался незначительный пик при 710,5 эВ благодаря вкладу Fe₂0₃. Магнiтнi гранулярнi плiвки Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ iз змiстом металу, нижчим за перколяцiйний порiг, дослiджувались за допомогою тунельного магнiтоопору, магнiторефрактивного ефекту та рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї. Максимальне значення магнiтоопору 3,7 % при кiмнатнiй температурi було знайдено для плiвок Fe₀.₃₅(Si0₂)₀.₆₅. Експериментальнi результати та теоретичний аналiз показують кореляцiю мiж тунельним магнiтоопором (ТМО) та магнiторефрактивним ефектом (МРЕ). Це дозволяє використовувати МРЕ для безконтактного вимiрювання ТМО. Хiмiчний склад поверхнi плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ аналiзувався за допомогою рентгенiвської фотоелектронної спектроскопiї (РФС) та порiвнювався з даними для поверхонь Si0₂ i Fe. РФС-спектри гранульованих плiвок Feₓ(Si0₂)₁₋ₓ характеризуються двома смугами при енергiях 707 та 720 еВ, якi вiдповiдають енергетичним рiвням Fe 2р₃/₂ та Fe 2р₁/₂. Також спостерiгався незначний максимум при 710,5 еВ завдяки внеску Fe₂0₃.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137251
citation_txt TMR, MRE, and X-ray photoelectron spectroscopy of Fe-SiO₂ granular films / V.G. Kravets, L.V. Poperenko, K.L. Vinnichenko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 328-333. — Бібліогр.: 14 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT kravetsvg tmrmreandxrayphotoelectronspectroscopyoffesio2granularfilms
AT poperenkolv tmrmreandxrayphotoelectronspectroscopyoffesio2granularfilms
AT vinnichenkokl tmrmreandxrayphotoelectronspectroscopyoffesio2granularfilms
AT kravetsvg tmomretarentgenívsʹkafotoelektronnaspektroskopíâgranulârnihplívokfexsio21x
AT poperenkolv tmomretarentgenívsʹkafotoelektronnaspektroskopíâgranulârnihplívokfexsio21x
AT vinnichenkokl tmomretarentgenívsʹkafotoelektronnaspektroskopíâgranulârnihplívokfexsio21x
first_indexed 2025-12-07T13:30:21Z
last_indexed 2025-12-07T13:30:21Z
_version_ 1850856409637322752

Схожі ресурси