Ellipsometric investigation of β-Si₃N₄ ceramics with Mo and Al additives
Ceramic Si₃N₄ samples with Мо and AI admixtures have been investigated by spectroellipsometry. The influence of admixtures on the ceramics optical properties have been studied. The local defects of Si₃N₄ crystal structure are responsible for the band gap reduction. The silicone oxynitride amount in...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Functional Materials |
|---|---|
| Дата: | 2005 |
| Автори: | Prokopets', V.M., Shaykevich, I.A., Robur, L.Y. |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137699 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Ellipsometric investigation of β-Si₃N₄ ceramics with Mo and Al additives / V.M. Prokopets', I.A. Shaykevich, L.Y. Robur // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 2. — С. 371-374. — Бібліогр.: 18 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineСхожі ресурси
-
Ellipsometric control of quality of polished MgF₂ optical ceramics
за авторством: Maslov, V.P., та інші
Опубліковано: (2004) -
Ellipsometric evidence of CoSi₂ formation in Co/Si multilayer induced by thermal annealing
за авторством: Kudryavtsev, Y.V., та інші
Опубліковано: (2005) -
Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation
за авторством: Shybiko, Ya.A., та інші
Опубліковано: (2006) -
Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO₂ substrate
за авторством: Bortchagovsky, E.G., та інші
Опубліковано: (2012) -
Spectral-ellipsometric examining the films of gold nanoparticles on Si/SiO2 substrate
за авторством: E. G. Bortchagovsky, та інші
Опубліковано: (2012)