Contact electrodeposition of CdTe thin films

The effect of contact electrodeposition conditions on the impurity content in CdTe films has been studied. Stoichiometric single-phase CdTe layers of cubic modification have been obtained. The films are not texturized, and are characterized by the coherent-scattering region size of about 30 nm and t...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2009
Автори: Klochko, N.P., Volkova, N.D., Kharchenko, M.M., Kopach, V.R.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2009
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137736
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Contact electrodeposition of CdTe thin films // N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.M. Kharchenko, V.R. Kopach // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 2. — С. 190-191. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-137736
record_format dspace
spelling Klochko, N.P.
Volkova, N.D.
Kharchenko, M.M.
Kopach, V.R.
2018-06-17T15:44:44Z
2018-06-17T15:44:44Z
2009
Contact electrodeposition of CdTe thin films // N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.M. Kharchenko, V.R. Kopach // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 2. — С. 190-191. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137736
The effect of contact electrodeposition conditions on the impurity content in CdTe films has been studied. Stoichiometric single-phase CdTe layers of cubic modification have been obtained. The films are not texturized, and are characterized by the coherent-scattering region size of about 30 nm and the relative micro-strain values of about 5·10⁻³.
Досліджено вплив контактного електроосадження на вміст домішок у плівках CdTe. Одержано стехіометричні однофазові шари CdTe кубічної модифікації . Плівки є нетекс турованими і характеризуються розміром областей когерентного розсіювання ≈ 30 нм та значенням відносних мікродеформацій ≈ 5·10⁻³.
Изучено влияние условий контактного электроосаждеmrя на содержание примесей в пленках CdTe. Получены стехиометрические однофазные слои CdTe кубической модификации. Пленки не текстурированы, характеризуются размером областей когеррентного рассеяния ≈ 30 нм и значениями относительных микродеформаций ≈ 5·10⁻³.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Characterization and properties
Contact electrodeposition of CdTe thin films
Контактне електросадження тонких плівок CdTe
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Contact electrodeposition of CdTe thin films
spellingShingle Contact electrodeposition of CdTe thin films
Klochko, N.P.
Volkova, N.D.
Kharchenko, M.M.
Kopach, V.R.
Characterization and properties
title_short Contact electrodeposition of CdTe thin films
title_full Contact electrodeposition of CdTe thin films
title_fullStr Contact electrodeposition of CdTe thin films
title_full_unstemmed Contact electrodeposition of CdTe thin films
title_sort contact electrodeposition of cdte thin films
author Klochko, N.P.
Volkova, N.D.
Kharchenko, M.M.
Kopach, V.R.
author_facet Klochko, N.P.
Volkova, N.D.
Kharchenko, M.M.
Kopach, V.R.
topic Characterization and properties
topic_facet Characterization and properties
publishDate 2009
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Контактне електросадження тонких плівок CdTe
description The effect of contact electrodeposition conditions on the impurity content in CdTe films has been studied. Stoichiometric single-phase CdTe layers of cubic modification have been obtained. The films are not texturized, and are characterized by the coherent-scattering region size of about 30 nm and the relative micro-strain values of about 5·10⁻³. Досліджено вплив контактного електроосадження на вміст домішок у плівках CdTe. Одержано стехіометричні однофазові шари CdTe кубічної модифікації . Плівки є нетекс турованими і характеризуються розміром областей когерентного розсіювання ≈ 30 нм та значенням відносних мікродеформацій ≈ 5·10⁻³. Изучено влияние условий контактного электроосаждеmrя на содержание примесей в пленках CdTe. Получены стехиометрические однофазные слои CdTe кубической модификации. Пленки не текстурированы, характеризуются размером областей когеррентного рассеяния ≈ 30 нм и значениями относительных микродеформаций ≈ 5·10⁻³.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137736
citation_txt Contact electrodeposition of CdTe thin films // N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.M. Kharchenko, V.R. Kopach // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 2. — С. 190-191. — Бібліогр.: 5 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT klochkonp contactelectrodepositionofcdtethinfilms
AT volkovand contactelectrodepositionofcdtethinfilms
AT kharchenkomm contactelectrodepositionofcdtethinfilms
AT kopachvr contactelectrodepositionofcdtethinfilms
AT klochkonp kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte
AT volkovand kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte
AT kharchenkomm kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte
AT kopachvr kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte
first_indexed 2025-12-07T18:03:06Z
last_indexed 2025-12-07T18:03:06Z
_version_ 1850873570181251072