Contact electrodeposition of CdTe thin films
The effect of contact electrodeposition conditions on the impurity content in CdTe films has been studied. Stoichiometric single-phase CdTe layers of cubic modification have been obtained. The films are not texturized, and are characterized by the coherent-scattering region size of about 30 nm and t...
Saved in:
| Published in: | Functional Materials |
|---|---|
| Date: | 2009 |
| Main Authors: | , , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2009
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137736 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Contact electrodeposition of CdTe thin films // N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.M. Kharchenko, V.R. Kopach // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 2. — С. 190-191. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862716109344473088 |
|---|---|
| author | Klochko, N.P. Volkova, N.D. Kharchenko, M.M. Kopach, V.R. |
| author_facet | Klochko, N.P. Volkova, N.D. Kharchenko, M.M. Kopach, V.R. |
| citation_txt | Contact electrodeposition of CdTe thin films // N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.M. Kharchenko, V.R. Kopach // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 2. — С. 190-191. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | The effect of contact electrodeposition conditions on the impurity content in CdTe films has been studied. Stoichiometric single-phase CdTe layers of cubic modification have been obtained. The films are not texturized, and are characterized by the coherent-scattering region size of about 30 nm and the relative micro-strain values of about 5·10⁻³.
Досліджено вплив контактного електроосадження на вміст домішок у плівках CdTe. Одержано стехіометричні однофазові шари CdTe кубічної модифікації . Плівки є нетекс турованими і характеризуються розміром областей когерентного розсіювання ≈ 30 нм та значенням відносних мікродеформацій ≈ 5·10⁻³.
Изучено влияние условий контактного электроосаждеmrя на содержание примесей в пленках CdTe. Получены стехиометрические однофазные слои CdTe кубической модификации. Пленки не текстурированы, характеризуются размером областей когеррентного рассеяния ≈ 30 нм и значениями относительных микродеформаций ≈ 5·10⁻³.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:03:06Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-137736 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T18:03:06Z |
| publishDate | 2009 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Klochko, N.P. Volkova, N.D. Kharchenko, M.M. Kopach, V.R. 2018-06-17T15:44:44Z 2018-06-17T15:44:44Z 2009 Contact electrodeposition of CdTe thin films // N.P. Klochko, N.D. Volkova, M.M. Kharchenko, V.R. Kopach // Functional Materials. — 2009. — Т. 16, № 2. — С. 190-191. — Бібліогр.: 5 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137736 The effect of contact electrodeposition conditions on the impurity content in CdTe films has been studied. Stoichiometric single-phase CdTe layers of cubic modification have been obtained. The films are not texturized, and are characterized by the coherent-scattering region size of about 30 nm and the relative micro-strain values of about 5·10⁻³. Досліджено вплив контактного електроосадження на вміст домішок у плівках CdTe. Одержано стехіометричні однофазові шари CdTe кубічної модифікації . Плівки є нетекс турованими і характеризуються розміром областей когерентного розсіювання ≈ 30 нм та значенням відносних мікродеформацій ≈ 5·10⁻³. Изучено влияние условий контактного электроосаждеmrя на содержание примесей в пленках CdTe. Получены стехиометрические однофазные слои CdTe кубической модификации. Пленки не текстурированы, характеризуются размером областей когеррентного рассеяния ≈ 30 нм и значениями относительных микродеформаций ≈ 5·10⁻³. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Characterization and properties Contact electrodeposition of CdTe thin films Контактне електросадження тонких плівок CdTe Article published earlier |
| spellingShingle | Contact electrodeposition of CdTe thin films Klochko, N.P. Volkova, N.D. Kharchenko, M.M. Kopach, V.R. Characterization and properties |
| title | Contact electrodeposition of CdTe thin films |
| title_alt | Контактне електросадження тонких плівок CdTe |
| title_full | Contact electrodeposition of CdTe thin films |
| title_fullStr | Contact electrodeposition of CdTe thin films |
| title_full_unstemmed | Contact electrodeposition of CdTe thin films |
| title_short | Contact electrodeposition of CdTe thin films |
| title_sort | contact electrodeposition of cdte thin films |
| topic | Characterization and properties |
| topic_facet | Characterization and properties |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/137736 |
| work_keys_str_mv | AT klochkonp contactelectrodepositionofcdtethinfilms AT volkovand contactelectrodepositionofcdtethinfilms AT kharchenkomm contactelectrodepositionofcdtethinfilms AT kopachvr contactelectrodepositionofcdtethinfilms AT klochkonp kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte AT volkovand kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte AT kharchenkomm kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte AT kopachvr kontaktneelektrosadžennâtonkihplívokcdte |