Gel, P., Yushchenko, A., Nedybalyuk, A., & Sakhno, V. (2004). X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides. Functional Materials.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Gel, P.V, A.V Yushchenko, A.F Nedybalyuk, та V.M Sakhno. "X-ray Spectroscopic Study of Structural Isotypism in Me₂Si Silicides." Functional Materials 2004.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Gel, P.V, et al. "X-ray Spectroscopic Study of Structural Isotypism in Me₂Si Silicides." Functional Materials, 2004.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.