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X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides

Basing on consideration of the shape, width, energy position, and integral intensity of X-ray spectra of all series as well as of photoemission quantum yield, an attempt has been made to explain the isotypism nature for silicides of transition metals belonging to the beginning and end of the 1st lar...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Functional Materials
Datum:	2004
Hauptverfasser:	Gel, P.V., Yushchenko, A.V., Nedybalyuk, A.F., Sakhno, V.M.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138795
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	X-ray spectroscopic study of structural isotypism in Me₂Si silicides / P.V. Gel, A.V. Yushchenko, A.F. Nedybalyuk, V.M. Sakhno // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 389-392. — Бібліогр.: 9 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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