Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects

A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxa...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2004
Автори: Natsik, V.D., Semerenko, Yu.A.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138820
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-138820
record_format dspace
spelling Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A.
2018-06-19T15:38:35Z
2018-06-19T15:38:35Z
2004
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138820
A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters.
Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости.
Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
Аналіз низькотемпературних релаксацїйних резонансів у матеріалах з дефектами
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
spellingShingle Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A.
title_short Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_full Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_fullStr Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_full_unstemmed Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
title_sort analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
author Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A.
author_facet Natsik, V.D.
Semerenko, Yu.A.
publishDate 2004
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Аналіз низькотемпературних релаксацїйних резонансів у матеріалах з дефектами
description A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters. Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости. Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138820
citation_txt Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT natsikvd analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects
AT semerenkoyua analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects
AT natsikvd analíznizʹkotemperaturnihrelaksacíinihrezonansívumateríalahzdefektami
AT semerenkoyua analíznizʹkotemperaturnihrelaksacíinihrezonansívumateríalahzdefektami
first_indexed 2025-12-07T16:08:56Z
last_indexed 2025-12-07T16:08:56Z
_version_ 1850866387261587456