Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects
A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxa...
Saved in:
| Published in: | Functional Materials |
|---|---|
| Date: | 2004 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2004
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138820 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862688725967831040 |
|---|---|
| author | Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. |
| author_facet | Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. |
| citation_txt | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters.
Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости.
Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості.
|
| first_indexed | 2025-12-07T16:08:56Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-138820 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T16:08:56Z |
| publishDate | 2004 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. 2018-06-19T15:38:35Z 2018-06-19T15:38:35Z 2004 Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects / V.D. Natsik, Yu.A. Semerenko // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 2. — С. 327-333. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138820 A theory has been advanced providing an adequate description of thermal-activated relaxation resonances of various physical origins in defect-containing materials. The algorithm has been proposed for processing the temperature spectra of absorption and suscep -tibility defect to determine the relaxation process activation parameters. Предложена теория, позволяющая адекватно описывать низкотемпературные термически активируемые релаксационные резонансы различной физической природы в материалах с дефектами. Описан алгоритм определения активационных параметров соответствующего процесса, основанный на анализе температурных спектров поглощения и дефекта восприимчивости. Запропоновано тєорію, що дозволяє адекватно описувати релаксаційні резонанси різної фізичної природи у матеріалах з дефектами. Описано метод визначення активаційних параметрів відповідного процесу, що базується на аналізі температурних спектрів поглинання та сприйнятливості. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects Аналіз низькотемпературних релаксацїйних резонансів у матеріалах з дефектами Article published earlier |
| spellingShingle | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects Natsik, V.D. Semerenko, Yu.A. |
| title | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
| title_alt | Аналіз низькотемпературних релаксацїйних резонансів у матеріалах з дефектами |
| title_full | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
| title_fullStr | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
| title_full_unstemmed | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
| title_short | Analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
| title_sort | analysis of low-temperature relaxation resonances in materials containing defects |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138820 |
| work_keys_str_mv | AT natsikvd analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects AT semerenkoyua analysisoflowtemperaturerelaxationresonancesinmaterialscontainingdefects AT natsikvd analíznizʹkotemperaturnihrelaksacíinihrezonansívumateríalahzdefektami AT semerenkoyua analíznizʹkotemperaturnihrelaksacíinihrezonansívumateríalahzdefektami |