Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam

The structure of unsupported epitaxial films of С₆₀-Bi composite with hcp lattice has been studied after irradiation by 100 keV electron beam in the electron microscope column. А short-time irradiation of the film by electrons at the average current density of 40 А/cm² results in the composite evapo...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Functional Materials
Date:2005
Main Authors: Vus, A.S., Savitsky, B.A., Zubarev, E.N., Moskalets, M.V.
Format: Article
Language:English
Published: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2005
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138867
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam / A.S. Vus, B.A. Savitsky, E.N. Zubarev, M.V. Moskalets // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 3. — С. 536-538. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-138867
record_format dspace
spelling Vus, A.S.
Savitsky, B.A.
Zubarev, E.N.
Moskalets, M.V.
2018-06-19T16:25:47Z
2018-06-19T16:25:47Z
2005
Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam / A.S. Vus, B.A. Savitsky, E.N. Zubarev, M.V. Moskalets // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 3. — С. 536-538. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138867
The structure of unsupported epitaxial films of С₆₀-Bi composite with hcp lattice has been studied after irradiation by 100 keV electron beam in the electron microscope column. А short-time irradiation of the film by electrons at the average current density of 40 А/cm² results in the composite evaporation in the beam central area. In the film boundary region, pores are formed of dimensions well correlated with the nanodimensional areas of the segregated bismuth. The electron bombardment results in reduced interplanar spacings depending on the plane system index and the irradiation intensity. А qualitative mechanism of pore formation has been proposed.
Исследована структура свободных эпитаксиальных пленок композита С₆₀-Bi с ГПУ решеткой после облучения пучком электронов с энергией 100 кэВ в колонне электронного микроскопа. Кратковременное облучение пленки электронами при средней плотности тока 40 А/см² вызывает испарение композита в центральной части пучка. В пограничной области пленки образуются поры, размеры которых хорошо коррелируют с наноразмерными областями сегрегированного висмута. Электронная бомбардировка приводит к уменьшению межплоскостных расстояний, зависящих от индекса системы плоскостей и интенсивности облучения. Предложена качественная модель, описывающая механизм образования пор.
Дослiджено структуру вiльних епiтаксiальних плiвок композиту С₆₀-Bi з гексагональною щiльно пакованою граткою пiсля опромiнення пучком електронiв з енергiєю 100 кеВ у колонi електронного мiкроскопа. Короткочасне опромiнення плiвки електронами при середнiй густинi струму 40 А/см² спричиняє випаровування композиту в центральнiй частинi пучка. У примежовiй областi плiвки утворюються пори, розмiри яких добре корелюють з нанорозмiрними областями сегрегованого вiсмуту. Електронне бомбардування спричиняє зменшення мiжплощинних вiдстаней, яке залежить вiд iндекса системи площин та вiд iнтенсивностi опромiнення. 3апропоновано якiсну модель, що описує механiзм утворення пор.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam
Структурні зміни у плівках композиту C₆₀-Bi, опромінених пучком прискорених електронів
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam
spellingShingle Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam
Vus, A.S.
Savitsky, B.A.
Zubarev, E.N.
Moskalets, M.V.
title_short Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam
title_full Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam
title_fullStr Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam
title_full_unstemmed Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam
title_sort structure changes in c₆₀-bi composite films irradiated by accelerated electron beam
author Vus, A.S.
Savitsky, B.A.
Zubarev, E.N.
Moskalets, M.V.
author_facet Vus, A.S.
Savitsky, B.A.
Zubarev, E.N.
Moskalets, M.V.
publishDate 2005
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Структурні зміни у плівках композиту C₆₀-Bi, опромінених пучком прискорених електронів
description The structure of unsupported epitaxial films of С₆₀-Bi composite with hcp lattice has been studied after irradiation by 100 keV electron beam in the electron microscope column. А short-time irradiation of the film by electrons at the average current density of 40 А/cm² results in the composite evaporation in the beam central area. In the film boundary region, pores are formed of dimensions well correlated with the nanodimensional areas of the segregated bismuth. The electron bombardment results in reduced interplanar spacings depending on the plane system index and the irradiation intensity. А qualitative mechanism of pore formation has been proposed. Исследована структура свободных эпитаксиальных пленок композита С₆₀-Bi с ГПУ решеткой после облучения пучком электронов с энергией 100 кэВ в колонне электронного микроскопа. Кратковременное облучение пленки электронами при средней плотности тока 40 А/см² вызывает испарение композита в центральной части пучка. В пограничной области пленки образуются поры, размеры которых хорошо коррелируют с наноразмерными областями сегрегированного висмута. Электронная бомбардировка приводит к уменьшению межплоскостных расстояний, зависящих от индекса системы плоскостей и интенсивности облучения. Предложена качественная модель, описывающая механизм образования пор. Дослiджено структуру вiльних епiтаксiальних плiвок композиту С₆₀-Bi з гексагональною щiльно пакованою граткою пiсля опромiнення пучком електронiв з енергiєю 100 кеВ у колонi електронного мiкроскопа. Короткочасне опромiнення плiвки електронами при середнiй густинi струму 40 А/см² спричиняє випаровування композиту в центральнiй частинi пучка. У примежовiй областi плiвки утворюються пори, розмiри яких добре корелюють з нанорозмiрними областями сегрегованого вiсмуту. Електронне бомбардування спричиняє зменшення мiжплощинних вiдстаней, яке залежить вiд iндекса системи площин та вiд iнтенсивностi опромiнення. 3апропоновано якiсну модель, що описує механiзм утворення пор.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138867
citation_txt Structure changes in C₆₀-Bi composite films irradiated by accelerated electron beam / A.S. Vus, B.A. Savitsky, E.N. Zubarev, M.V. Moskalets // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 3. — С. 536-538. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT vusas structurechangesinc60bicompositefilmsirradiatedbyacceleratedelectronbeam
AT savitskyba structurechangesinc60bicompositefilmsirradiatedbyacceleratedelectronbeam
AT zubareven structurechangesinc60bicompositefilmsirradiatedbyacceleratedelectronbeam
AT moskaletsmv structurechangesinc60bicompositefilmsirradiatedbyacceleratedelectronbeam
AT vusas strukturnízmíniuplívkahkompozituc60biopromínenihpučkompriskorenihelektronív
AT savitskyba strukturnízmíniuplívkahkompozituc60biopromínenihpučkompriskorenihelektronív
AT zubareven strukturnízmíniuplívkahkompozituc60biopromínenihpučkompriskorenihelektronív
AT moskaletsmv strukturnízmíniuplívkahkompozituc60biopromínenihpučkompriskorenihelektronív
first_indexed 2025-11-27T21:24:22Z
last_indexed 2025-11-27T21:24:22Z
_version_ 1850852850195759104