Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films

The crystallization kinetics of Ge₁Sb₂Тe₄ and Ge₂Sb₂Тe₅ films has been analyzed using results of impedance measurements, in which Bruggerman's effective medium approximation was employed, considering that the amorphous matrix contained inclusions of two different crystalline phases. To vali...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2005
Автори: Claudio, D., Laine, B., Licea, O., Morales-Sanchez, E., Prokhorov, E., Trapaga, G.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2005
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138877
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films / D. Claudio, B. Laine, O. Licea, E. Morales-Sanchez, E. Prokhorov, G. Trapaga // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 4. — С. 669-673. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-138877
record_format dspace
spelling Claudio, D.
Laine, B.
Licea, O.
Morales-Sanchez, E.
Prokhorov, E.
Trapaga, G.
2018-06-19T16:34:25Z
2018-06-19T16:34:25Z
2005
Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films / D. Claudio, B. Laine, O. Licea, E. Morales-Sanchez, E. Prokhorov, G. Trapaga // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 4. — С. 669-673. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138877
The crystallization kinetics of Ge₁Sb₂Тe₄ and Ge₂Sb₂Тe₅ films has been analyzed using results of impedance measurements, in which Bruggerman's effective medium approximation was employed, considering that the amorphous matrix contained inclusions of two different crystalline phases. To validate the predictions from analytical model, we compared those with experimental results obtained for Ge₁Sb₂Тe₄ and Ge₂Sb₂Тe₅ films. The proposed analytical model allows us to simulate similar transformation curves as those obtained from the experiments in different materials.
Кiнетику процесiв кристалiзацii у плiвках Ge₁Sb₂Тe₄ и Ge₂Sb₂Тe₅ проаналiзовано за допомогою вимiрювань iмпедансу з використанням наближення Бруггермана, яке бере до уваги наявнiсть включень двох рiзних кристалiчних фаз в аморфнiй матрицi. Прогнози аналiтичноi моделi зiставлено з експериментальними результатами для Ge₁Sb₂Тe₄ та Ge₂Sb₂Тe₅ . 3апропонована аналiтична модель дозволяє моделювати кривi фазових перетворень, аналогiчнi одержаним експериментально для рiзних матерiалiв.
Кинетика процессов кристаллизации в пленках Ge₁Sb₂Тe₄ и Ge₂Sb₂Тe₅ проанализирована с помощью измерений импеданса с использованием приближения Бруггермана, учитывающего наличие включений двух различных кристаллических фаз в аморфной матрице. Предсказания аналитической модели сравнены с экспериментальными результатами для Ge₁Sb₂Тe₄ и Ge₂Sb₂Тe₅. Предложенная аналитическая модель позволяет моделировать кривые фазовых превращений, подобные полученным экспериментально для различных материалов.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
Процес кристалiзацiI у тонких стехiометричних плiвках GeSbTe
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
spellingShingle Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
Claudio, D.
Laine, B.
Licea, O.
Morales-Sanchez, E.
Prokhorov, E.
Trapaga, G.
title_short Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
title_full Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
title_fullStr Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
title_full_unstemmed Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films
title_sort crystallization process in thin stoichiometric gesbte films
author Claudio, D.
Laine, B.
Licea, O.
Morales-Sanchez, E.
Prokhorov, E.
Trapaga, G.
author_facet Claudio, D.
Laine, B.
Licea, O.
Morales-Sanchez, E.
Prokhorov, E.
Trapaga, G.
publishDate 2005
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Процес кристалiзацiI у тонких стехiометричних плiвках GeSbTe
description The crystallization kinetics of Ge₁Sb₂Тe₄ and Ge₂Sb₂Тe₅ films has been analyzed using results of impedance measurements, in which Bruggerman's effective medium approximation was employed, considering that the amorphous matrix contained inclusions of two different crystalline phases. To validate the predictions from analytical model, we compared those with experimental results obtained for Ge₁Sb₂Тe₄ and Ge₂Sb₂Тe₅ films. The proposed analytical model allows us to simulate similar transformation curves as those obtained from the experiments in different materials. Кiнетику процесiв кристалiзацii у плiвках Ge₁Sb₂Тe₄ и Ge₂Sb₂Тe₅ проаналiзовано за допомогою вимiрювань iмпедансу з використанням наближення Бруггермана, яке бере до уваги наявнiсть включень двох рiзних кристалiчних фаз в аморфнiй матрицi. Прогнози аналiтичноi моделi зiставлено з експериментальними результатами для Ge₁Sb₂Тe₄ та Ge₂Sb₂Тe₅ . 3апропонована аналiтична модель дозволяє моделювати кривi фазових перетворень, аналогiчнi одержаним експериментально для рiзних матерiалiв. Кинетика процессов кристаллизации в пленках Ge₁Sb₂Тe₄ и Ge₂Sb₂Тe₅ проанализирована с помощью измерений импеданса с использованием приближения Бруггермана, учитывающего наличие включений двух различных кристаллических фаз в аморфной матрице. Предсказания аналитической модели сравнены с экспериментальными результатами для Ge₁Sb₂Тe₄ и Ge₂Sb₂Тe₅. Предложенная аналитическая модель позволяет моделировать кривые фазовых превращений, подобные полученным экспериментально для различных материалов.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/138877
citation_txt Crystallization process in thin stoichiometric GeSbTe films / D. Claudio, B. Laine, O. Licea, E. Morales-Sanchez, E. Prokhorov, G. Trapaga // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 4. — С. 669-673. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT claudiod crystallizationprocessinthinstoichiometricgesbtefilms
AT laineb crystallizationprocessinthinstoichiometricgesbtefilms
AT liceao crystallizationprocessinthinstoichiometricgesbtefilms
AT moralessancheze crystallizationprocessinthinstoichiometricgesbtefilms
AT prokhorove crystallizationprocessinthinstoichiometricgesbtefilms
AT trapagag crystallizationprocessinthinstoichiometricgesbtefilms
AT claudiod proceskristalizaciiutonkihstehiometričnihplivkahgesbte
AT laineb proceskristalizaciiutonkihstehiometričnihplivkahgesbte
AT liceao proceskristalizaciiutonkihstehiometričnihplivkahgesbte
AT moralessancheze proceskristalizaciiutonkihstehiometričnihplivkahgesbte
AT prokhorove proceskristalizaciiutonkihstehiometričnihplivkahgesbte
AT trapagag proceskristalizaciiutonkihstehiometričnihplivkahgesbte
first_indexed 2025-12-01T04:40:38Z
last_indexed 2025-12-01T04:40:38Z
_version_ 1850859276050890752