Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates
The epitaxial layers of Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ quaternary solid solution (thickness of 2 to 11 µm, Nd ≤ 10⁵ сm⁻², n(p) = (0.9 to 8.7)·10¹⁷ сm⁻³ and µₕ = (0.1 to 24)·10³ сm²·V⁻¹·s⁻¹ at T - 80 К), lattice-matched with KCI, BaF₂, Рb₀.₈₀Sn₀.₂₀Те, and РbТе₀.₉₂Sе₀.₀₈ substrates, were grown in a wide compositio...
Saved in:
| Published in: | Functional Materials |
|---|---|
| Date: | 2005 |
| Main Authors: | , , |
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139315 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates / O.N. Tsarenko, S.I. Ryabets, A.I. Tkachuk // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 3. — С. 526-530. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862668460796936192 |
|---|---|
| author | Tsarenko, O.N. Ryabets, S.I. Tkachuk, A.I. |
| author_facet | Tsarenko, O.N. Ryabets, S.I. Tkachuk, A.I. |
| citation_txt | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates / O.N. Tsarenko, S.I. Ryabets, A.I. Tkachuk // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 3. — С. 526-530. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | The epitaxial layers of Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ quaternary solid solution (thickness of 2 to 11 µm, Nd ≤ 10⁵ сm⁻², n(p) = (0.9 to 8.7)·10¹⁷ сm⁻³ and µₕ = (0.1 to 24)·10³ сm²·V⁻¹·s⁻¹ at T - 80 К), lattice-matched with KCI, BaF₂, Рb₀.₈₀Sn₀.₂₀Те, and РbТе₀.₉₂Sе₀.₀₈ substrates, were grown in a wide composition range by the liquid phase epitaxy technique at a programmed overcooling of supersaturated melt-solution.
Методом рiдинної епiтаксiї при програмному переохолодженнi пересиченого розчину-розплаву на пiдкладках KCI, BaF₂, Рb₀.₈₀Sn₀.₂₀Те, і РbТе₀.₉₂Sе₀.₀₈ у широкому дiапазонi складiв вирощенi iзоперiоднi епiтаксiйнi шари чотирикомпонентних твердих розчинiв Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ товщиною 2/11 мкм з Nd ≤ 10⁵ см⁻², n(p) = (0.9 to 8.7)·10¹⁷ см⁻³ and µₕ = (0.1 to 24)·10³ см²·V⁻¹·s⁻¹ at T - 80 К.
Методом жидкофазной эпитаксии при программном переохлаждении пересыщенного раствора-расплава на подложках KCI, BaF₂, Рb₀.₈₀Sn₀.₂₀Те, и РbТе₀.₉₂Sе₀.₀₈ в широком диапазоне составов выращены изопериодные эпитаксиальные слои четырёхкомпонентных твёрдых растворов Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ толщиной 2/11 мкм з Nd ≤ 10⁵ см⁻², n(p) = (0.9 to 8.7)·10¹⁷ см⁻³ и µₕ = (0.1 to 24)·10³ см²·V⁻¹·s⁻¹ at T - 80 К.
|
| first_indexed | 2025-12-07T15:25:18Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-139315 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T15:25:18Z |
| publishDate | 2005 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Tsarenko, O.N. Ryabets, S.I. Tkachuk, A.I. 2018-06-20T05:02:12Z 2018-06-20T05:02:12Z 2005 Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates / O.N. Tsarenko, S.I. Ryabets, A.I. Tkachuk // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 3. — С. 526-530. — Бібліогр.: 8 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139315 The epitaxial layers of Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ quaternary solid solution (thickness of 2 to 11 µm, Nd ≤ 10⁵ сm⁻², n(p) = (0.9 to 8.7)·10¹⁷ сm⁻³ and µₕ = (0.1 to 24)·10³ сm²·V⁻¹·s⁻¹ at T - 80 К), lattice-matched with KCI, BaF₂, Рb₀.₈₀Sn₀.₂₀Те, and РbТе₀.₉₂Sе₀.₀₈ substrates, were grown in a wide composition range by the liquid phase epitaxy technique at a programmed overcooling of supersaturated melt-solution. Методом рiдинної епiтаксiї при програмному переохолодженнi пересиченого розчину-розплаву на пiдкладках KCI, BaF₂, Рb₀.₈₀Sn₀.₂₀Те, і РbТе₀.₉₂Sе₀.₀₈ у широкому дiапазонi складiв вирощенi iзоперiоднi епiтаксiйнi шари чотирикомпонентних твердих розчинiв Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ товщиною 2/11 мкм з Nd ≤ 10⁵ см⁻², n(p) = (0.9 to 8.7)·10¹⁷ см⁻³ and µₕ = (0.1 to 24)·10³ см²·V⁻¹·s⁻¹ at T - 80 К. Методом жидкофазной эпитаксии при программном переохлаждении пересыщенного раствора-расплава на подложках KCI, BaF₂, Рb₀.₈₀Sn₀.₂₀Те, и РbТе₀.₉₂Sе₀.₀₈ в широком диапазоне составов выращены изопериодные эпитаксиальные слои четырёхкомпонентных твёрдых растворов Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ толщиной 2/11 мкм з Nd ≤ 10⁵ см⁻², n(p) = (0.9 to 8.7)·10¹⁷ см⁻³ и µₕ = (0.1 to 24)·10³ см²·V⁻¹·s⁻¹ at T - 80 К. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates Властивості епітаксійних шарів Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ вирощених з пересиченого розчину-розплаву на діелектричних та напівпровідникових підкладках Article published earlier |
| spellingShingle | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates Tsarenko, O.N. Ryabets, S.I. Tkachuk, A.I. |
| title | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates |
| title_alt | Властивості епітаксійних шарів Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ вирощених з пересиченого розчину-розплаву на діелектричних та напівпровідникових підкладках |
| title_full | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates |
| title_fullStr | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates |
| title_full_unstemmed | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates |
| title_short | Properties of the Pb₁-ₓSnₓTe₁-ᵧSeᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates |
| title_sort | properties of the pb₁-ₓsnₓte₁-ᵧseᵧ epitaxial layers grown from the supersaturated melt-solution on dielectric and semiconductor substrates |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139315 |
| work_keys_str_mv | AT tsarenkoon propertiesofthepb1xsnxte1γseγepitaxiallayersgrownfromthesupersaturatedmeltsolutionondielectricandsemiconductorsubstrates AT ryabetssi propertiesofthepb1xsnxte1γseγepitaxiallayersgrownfromthesupersaturatedmeltsolutionondielectricandsemiconductorsubstrates AT tkachukai propertiesofthepb1xsnxte1γseγepitaxiallayersgrownfromthesupersaturatedmeltsolutionondielectricandsemiconductorsubstrates AT tsarenkoon vlastivostíepítaksíinihšarívpb1xsnxte1γseγviroŝenihzperesičenogorozčinurozplavunadíelektričnihtanapívprovídnikovihpídkladkah AT ryabetssi vlastivostíepítaksíinihšarívpb1xsnxte1γseγviroŝenihzperesičenogorozčinurozplavunadíelektričnihtanapívprovídnikovihpídkladkah AT tkachukai vlastivostíepítaksíinihšarívpb1xsnxte1γseγviroŝenihzperesičenogorozčinurozplavunadíelektričnihtanapívprovídnikovihpídkladkah |