XPS and ESR study of tantalum nanoparticles

The electron structure of the films formed by ensemble of tantalum nanoparticles has been studied using XPS and EPR methods. Spectra of internal atomic levels of the film surface have been obtained using step-by-step annealing in vacuum. Using Ta4f spectra decomposition into components, the kinetics...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2004
Автори: Shpak, A.P., Korduban, A.M., Trachevsky, V.V.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139433
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:XPS and ESR study of tantalum nanoparticles / A.P. Shpak, A.M. Korduban, V.V. Trachevsky // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 3. — С. 451-453. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-139433
record_format dspace
spelling Shpak, A.P.
Korduban, A.M.
Trachevsky, V.V.
2018-06-20T12:38:42Z
2018-06-20T12:38:42Z
2004
XPS and ESR study of tantalum nanoparticles / A.P. Shpak, A.M. Korduban, V.V. Trachevsky // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 3. — С. 451-453. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139433
The electron structure of the films formed by ensemble of tantalum nanoparticles has been studied using XPS and EPR methods. Spectra of internal atomic levels of the film surface have been obtained using step-by-step annealing in vacuum. Using Ta4f spectra decomposition into components, the kinetics of phase formation processes has been investigated.
Методами РФС и ЭПР исследована электронная структура пленок, сформированных из ансамбля наночастиц тантала. Получены спектры внутренних уровней атомов поверхности пленок при ступенчатом отжиге в вакууме. По результатам разложения Та4/-спектров на компоненты изучена кинетика процессов фазообразования.
Методами РФС та ЕПР досліджєно електронну будову плівок, сформованих з ансамблю наночастинок танталу. Отримано спектри внутрішніх рівнів атомів поверхні плівок при відпалі у вакуумі. За результатами розкладання Ta4f-спектрiв на компоненти вивчено кинетіку процесів фазоутворювання.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
XPS and ESR study of tantalum nanoparticles
Дослідження наночастинок танталу методами РФС та ЕПР
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title XPS and ESR study of tantalum nanoparticles
spellingShingle XPS and ESR study of tantalum nanoparticles
Shpak, A.P.
Korduban, A.M.
Trachevsky, V.V.
title_short XPS and ESR study of tantalum nanoparticles
title_full XPS and ESR study of tantalum nanoparticles
title_fullStr XPS and ESR study of tantalum nanoparticles
title_full_unstemmed XPS and ESR study of tantalum nanoparticles
title_sort xps and esr study of tantalum nanoparticles
author Shpak, A.P.
Korduban, A.M.
Trachevsky, V.V.
author_facet Shpak, A.P.
Korduban, A.M.
Trachevsky, V.V.
publishDate 2004
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Дослідження наночастинок танталу методами РФС та ЕПР
description The electron structure of the films formed by ensemble of tantalum nanoparticles has been studied using XPS and EPR methods. Spectra of internal atomic levels of the film surface have been obtained using step-by-step annealing in vacuum. Using Ta4f spectra decomposition into components, the kinetics of phase formation processes has been investigated. Методами РФС и ЭПР исследована электронная структура пленок, сформированных из ансамбля наночастиц тантала. Получены спектры внутренних уровней атомов поверхности пленок при ступенчатом отжиге в вакууме. По результатам разложения Та4/-спектров на компоненты изучена кинетика процессов фазообразования. Методами РФС та ЕПР досліджєно електронну будову плівок, сформованих з ансамблю наночастинок танталу. Отримано спектри внутрішніх рівнів атомів поверхні плівок при відпалі у вакуумі. За результатами розкладання Ta4f-спектрiв на компоненти вивчено кинетіку процесів фазоутворювання.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139433
citation_txt XPS and ESR study of tantalum nanoparticles / A.P. Shpak, A.M. Korduban, V.V. Trachevsky // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 3. — С. 451-453. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT shpakap xpsandesrstudyoftantalumnanoparticles
AT kordubanam xpsandesrstudyoftantalumnanoparticles
AT trachevskyvv xpsandesrstudyoftantalumnanoparticles
AT shpakap doslídžennânanočastinoktantalumetodamirfstaepr
AT kordubanam doslídžennânanočastinoktantalumetodamirfstaepr
AT trachevskyvv doslídžennânanočastinoktantalumetodamirfstaepr
first_indexed 2025-12-07T16:35:22Z
last_indexed 2025-12-07T16:35:22Z
_version_ 1850868050391203840