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XPS and ESR study of tantalum nanoparticles

The electron structure of the films formed by ensemble of tantalum nanoparticles has been studied using XPS and EPR methods. Spectra of internal atomic levels of the film surface have been obtained using step-by-step annealing in vacuum. Using Ta4f spectra decomposition into components, the kinetics...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Functional Materials
Datum:	2004
Hauptverfasser:	Shpak, A.P., Korduban, A.M., Trachevsky, V.V.
Format:	Artikel
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2004
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139433
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Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	XPS and ESR study of tantalum nanoparticles / A.P. Shpak, A.M. Korduban, V.V. Trachevsky // Functional Materials. — 2004. — Т. 11, № 3. — С. 451-453. — Бібліогр.: 4 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

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