Dielectric inhomogeneities in CdZnTe crystals

It has been shown that the character of CdZnTe crуstal dielectric constant dependence on coordinate (that can be revealed bу considering the dε'/dx = f(x) function) maу be defined not onlу bу the distribution of structure inhomogeneities but also bу directions of field gradients generated bу...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Functional Materials
Datum:2006
Hauptverfasser: Gerasimenko, A.S., Komar, V.K., Migal, V.P., Sulima, S.V., Phomin, A.S.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2006
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139613
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Dielectric inhomogeneities in CdZnTe crystals / A.S. Gerasimenko, V.K. Komar, V.P. Migal, S.V. Sulima, A.S. Phomin // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 1. — С. 74-76. — Бібліогр.: 6 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:It has been shown that the character of CdZnTe crуstal dielectric constant dependence on coordinate (that can be revealed bу considering the dε'/dx = f(x) function) maу be defined not onlу bу the distribution of structure inhomogeneities but also bу directions of field gradients generated bу the inhomogeneities. Тo characterize the defect formation processes in the samples prepared from radial and axial ingot sections, the dε'/dx = f(ε') diagrams have been proposed. Показано, что характер зависимости диэлектрической проницаемости кристаллов CdZnTe от координаты, выявляемый посредством анализа зависимости dε'/dx = f(x), может быть связан не только с распределением структурных неоднородностей, но и с направлением создаваемых ими градиентов полей. Для характеристики процессов дефектообразования в образцах, изготовленных из радиальных и осевых срезов були, предложены диаграммы dε'/dx = f(ε'). Показано, що характер залежностi дiелектричної проникностi кристалiв CdZnTe вiд координати, що виявляється за допомогою аналiзу залежностi dε'/dx = f(x), може бути пов'язаний не тiльки з розподiлом структурних неоднорiдностей, але i з напрямком створюваних ними градiєнтiв полiв. Для характеристики процесiв дефектоутворення в зразках, виготовлених з радiальних i осьових зрiзiв булi, запропоновано дiаграми dε'/dx = f(ε').
ISSN:1027-5495