Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films
Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated....
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Functional Materials |
|---|---|
| Datum: | 2005 |
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139715 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862722330308902912 |
|---|---|
| author | Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. |
| author_facet | Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. |
| citation_txt | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated. It has been show that at wavelength λ = 620 nm, the ellipsometric sensor on Au film is more sensitive to molecular pollutions than sensor on Ag film.
Используя метод Кречмана, исследованы угловые зависимости поляризационных параметров (азимут ψ восстановленной линейной поляризации и сдвиг фаз Δ между р- и s-компонентами поляризации электромагнитной волны) для тонких пленок Ад и Au. Показано, что на длине волны λ = 620 нм эллипсометрический сенсор, изготовленный на пленке золота, является более чувствительным к молекулярным загрязнениям, чем на пленке серебра.
З застосуванням метода Кречмана досліджено кутові залежності поляризаційних параметрів (азимут ψ відновленої лінійної поляризації та зсув Δ фаз між р- та s-компонентами електромагнітної хвилі) для тонких плівок Ад та Au. З цих даних видно, що на довжині хвилі λ = 620 нм еліпсометричний сенсор, виготовлений на плівці золота, має вищу чутливість до молекулярних забруднень, ніж сенсор на плівці срібла.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:35:33Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-139715 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T18:35:33Z |
| publishDate | 2005 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. 2018-06-21T09:21:24Z 2018-06-21T09:21:24Z 2005 Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films / V.L. Severynov, I.A. Shaikevich, Y.A. Shybiko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 131-132. — Бібліогр.: 4 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139715 Using Kretschmann’s method, important parameters defining the propagation of surface waves (namely, the restored polarization azimuth ψ and phase difference Δ between p- and s-components of the electromagnetic wave) versus the light incidence angle θ for thin Ag and Au films have been investigated. It has been show that at wavelength λ = 620 nm, the ellipsometric sensor on Au film is more sensitive to molecular pollutions than sensor on Ag film. Используя метод Кречмана, исследованы угловые зависимости поляризационных параметров (азимут ψ восстановленной линейной поляризации и сдвиг фаз Δ между р- и s-компонентами поляризации электромагнитной волны) для тонких пленок Ад и Au. Показано, что на длине волны λ = 620 нм эллипсометрический сенсор, изготовленный на пленке золота, является более чувствительным к молекулярным загрязнениям, чем на пленке серебра. З застосуванням метода Кречмана досліджено кутові залежності поляризаційних параметрів (азимут ψ відновленої лінійної поляризації та зсув Δ фаз між р- та s-компонентами електромагнітної хвилі) для тонких плівок Ад та Au. З цих даних видно, що на довжині хвилі λ = 620 нм еліпсометричний сенсор, виготовлений на плівці золота, має вищу чутливість до молекулярних забруднень, ніж сенсор на плівці срібла. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films Еліпсометричний плазмонний сенсор для адсорбованих шарів на тонких плівках срібла та золота Article published earlier |
| spellingShingle | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films Severynov, V.L. Shaikevich, I.A. Shybiko, Y.A. |
| title | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_alt | Еліпсометричний плазмонний сенсор для адсорбованих шарів на тонких плівках срібла та золота |
| title_full | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_fullStr | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_full_unstemmed | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_short | Ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin Ag and Au films |
| title_sort | ellipsometric plasmon sensor for adsorbed layers on thin ag and au films |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139715 |
| work_keys_str_mv | AT severynovvl ellipsometricplasmonsensorforadsorbedlayersonthinagandaufilms AT shaikevichia ellipsometricplasmonsensorforadsorbedlayersonthinagandaufilms AT shybikoya ellipsometricplasmonsensorforadsorbedlayersonthinagandaufilms AT severynovvl elípsometričniiplazmonniisensordlâadsorbovanihšarívnatonkihplívkahsríblatazolota AT shaikevichia elípsometričniiplazmonniisensordlâadsorbovanihšarívnatonkihplívkahsríblatazolota AT shybikoya elípsometričniiplazmonniisensordlâadsorbovanihšarívnatonkihplívkahsríblatazolota |