Influence of oxide layers on optical properties of copper in a wide spectral range
Optical properties of flawless bulk copper sample has been studied based on spectroel-lipsometry measurements in a wide spectral interval (Av = 0.18 to 4.87 eV) at various angles of light incidence. The main characteristics of electronic subsystem of this metal and values of main energy intervals in...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Functional Materials |
|---|---|
| Дата: | 2005 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2005
|
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139741 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Influence of oxide layers on optical properties of copper in a wide spectral range / Y.V. Filipov, V.S. Staschuk, L.V. Poperenko // Functional Materials. — 2005. — Т. 12, № 1. — С. 102-106. — Бібліогр.: 16 назв. — англ. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Optical properties of flawless bulk copper sample has been studied based on spectroel-lipsometry measurements in a wide spectral interval (Av = 0.18 to 4.87 eV) at various angles of light incidence. The main characteristics of electronic subsystem of this metal and values of main energy intervals in a band structure have been calculated. Taking into consideration influence of the surface oxide layer.
Исследованы оптические свойства массивных образцов меди с идеальной структурой на основе спектроэллипсометрических измерений в широкой области спектра (Av = 0.18-4.87 эВ) при различных углах падения света. Рассчитаны характеристики электронной подсистемы металла и основные энергетические интервалы зонной структуры медных образцов с учетом влияния поверхностного слоя окиси.
Досліджено оптичні властивості масивних мідних зразків з ідеальною структурою на основі спектроеліпсометричних досліджень у широкій області спектру (hv = 0.18-4.87 еВ) при варіюванні кута падіння світла. Розраховано характеристики електронної підсистеми металу та основні енергетичні інтервали зонної структури мідних зразків з урахуванням впливу приповерхневого шару оксиду.
|
|---|---|
| ISSN: | 1027-5495 |