Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry
The principal angle and ellipticity of the light wave reflected from the surface of the single-crystal silicon coated by a CdTe film have been measured in 366-579 nm spectral region. Using a specially developed computer graphic program of the ellipsometric data processing optical constants and a fil...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Functional Materials |
|---|---|
| Datum: | 2006 |
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2006
|
| Online Zugang: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139957 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry / K.N. Kornienko, V.A. Odarych, L.V. Poperenko, N.V. Vuichik // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 1. — С. 179-182. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862668698819493888 |
|---|---|
| author | Kornienko, K.N. Odarych, V.A. Poperenko, L.V. Vuichik, N.V. |
| author_facet | Kornienko, K.N. Odarych, V.A. Poperenko, L.V. Vuichik, N.V. |
| citation_txt | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry / K.N. Kornienko, V.A. Odarych, L.V. Poperenko, N.V. Vuichik // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 1. — С. 179-182. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Functional Materials |
| description | The principal angle and ellipticity of the light wave reflected from the surface of the single-crystal silicon coated by a CdTe film have been measured in 366-579 nm spectral region. Using a specially developed computer graphic program of the ellipsometric data processing optical constants and a film thickness distribution over the sample surface area have been determined. The CdTe refraction index values obtained for the film are considerably lower than that of CdTe single crystal. That is explained by porous structure of the film.
В спектральнiй областi 366-579 нм вимiряно головний кут i елiптичнiсть свiтлової хвилi, вiдбитої вiд поверхнi монокристалiчного кремнiю, вкритою плiвкою телуриду кадмiю. Представлено комп'ютерну графiчну програму обробки елiпсометричних вимiрiв, з допомогою якої знайдено оптичнi сталi та розподiл товщини плiвки по площi зразка. Oдержанi значення показника заломлення плiвки телуриду кадмiю значно меншi за показники заломлення монокристалiчного СdTe, що пояснюється пухкою структурою плiвки.
В спектральной области 366-579 нм измерены главный угол и эллиптичность световой волны, отраженной от поверхности монокристалического кремния, покрытой пленкой теллурида кадмия. Представлена компьютерная графическая программа обработки эллипсометрических измерений, с помощью которой найдены оптические постоянные и распределение толщины пленки по площади образца. Полученные значения показателя преломления пленки теллурида кадмия значительно меньше показателя преломления монокристалического СdTe, что объясняется рыхлой структурой пленки.
|
| first_indexed | 2025-12-07T15:26:02Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-139957 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1027-5495 |
| language | English |
| last_indexed | 2025-12-07T15:26:02Z |
| publishDate | 2006 |
| publisher | НТК «Інститут монокристалів» НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Kornienko, K.N. Odarych, V.A. Poperenko, L.V. Vuichik, N.V. 2018-06-21T14:16:06Z 2018-06-21T14:16:06Z 2006 Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry / K.N. Kornienko, V.A. Odarych, L.V. Poperenko, N.V. Vuichik // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 1. — С. 179-182. — Бібліогр.: 7 назв. — англ. 1027-5495 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139957 The principal angle and ellipticity of the light wave reflected from the surface of the single-crystal silicon coated by a CdTe film have been measured in 366-579 nm spectral region. Using a specially developed computer graphic program of the ellipsometric data processing optical constants and a film thickness distribution over the sample surface area have been determined. The CdTe refraction index values obtained for the film are considerably lower than that of CdTe single crystal. That is explained by porous structure of the film. В спектральнiй областi 366-579 нм вимiряно головний кут i елiптичнiсть свiтлової хвилi, вiдбитої вiд поверхнi монокристалiчного кремнiю, вкритою плiвкою телуриду кадмiю. Представлено комп'ютерну графiчну програму обробки елiпсометричних вимiрiв, з допомогою якої знайдено оптичнi сталi та розподiл товщини плiвки по площi зразка. Oдержанi значення показника заломлення плiвки телуриду кадмiю значно меншi за показники заломлення монокристалiчного СdTe, що пояснюється пухкою структурою плiвки. В спектральной области 366-579 нм измерены главный угол и эллиптичность световой волны, отраженной от поверхности монокристалического кремния, покрытой пленкой теллурида кадмия. Представлена компьютерная графическая программа обработки эллипсометрических измерений, с помощью которой найдены оптические постоянные и распределение толщины пленки по площади образца. Полученные значения показателя преломления пленки теллурида кадмия значительно меньше показателя преломления монокристалического СdTe, что объясняется рыхлой структурой пленки. en НТК «Інститут монокристалів» НАН України Functional Materials Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry Визначення оптичних параметрів плівки телуриду кадмію методом еліпсометрії головного кута Article published earlier |
| spellingShingle | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry Kornienko, K.N. Odarych, V.A. Poperenko, L.V. Vuichik, N.V. |
| title | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry |
| title_alt | Визначення оптичних параметрів плівки телуриду кадмію методом еліпсометрії головного кута |
| title_full | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry |
| title_fullStr | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry |
| title_full_unstemmed | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry |
| title_short | Determination of optical parameters of CdTe films by principal angle ellypsometry |
| title_sort | determination of optical parameters of cdte films by principal angle ellypsometry |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139957 |
| work_keys_str_mv | AT kornienkokn determinationofopticalparametersofcdtefilmsbyprincipalangleellypsometry AT odarychva determinationofopticalparametersofcdtefilmsbyprincipalangleellypsometry AT poperenkolv determinationofopticalparametersofcdtefilmsbyprincipalangleellypsometry AT vuichiknv determinationofopticalparametersofcdtefilmsbyprincipalangleellypsometry AT kornienkokn viznačennâoptičnihparametrívplívkiteluridukadmíûmetodomelípsometríígolovnogokuta AT odarychva viznačennâoptičnihparametrívplívkiteluridukadmíûmetodomelípsometríígolovnogokuta AT poperenkolv viznačennâoptičnihparametrívplívkiteluridukadmíûmetodomelípsometríígolovnogokuta AT vuichiknv viznačennâoptičnihparametrívplívkiteluridukadmíûmetodomelípsometríígolovnogokuta |