Стиль цитування APA (7-ме видання)

Shybiko, Y., Shaykevich, I., & Melnichenko, L. (2006). Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation. НТК «Інститут монокристалів» НАН України.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Shybiko, Ya.A, I.A Shaykevich, та L.Yu Melnichenko. Angular Dependences of Ellipsometric Parameters of Thin Cr and Ti Films Under Surface Polariton Excitation. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2006.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Shybiko, Ya.A, et al. Angular Dependences of Ellipsometric Parameters of Thin Cr and Ti Films Under Surface Polariton Excitation. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2006.