Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation
The 80 Å and 100 Å thick Cr films and 45 Å thick Ti ones were obtained bу the vacuum evaporation on glass substrates. The ellipsometric parameter ψ (azimuth of the restored linear polarization ψ) was measured at λ = 546.1 nm both at the air side and the glass one under various angles of incidence. I...
Збережено в:
| Дата: | 2006 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English |
| Опубліковано: |
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
2006
|
| Назва видання: | Functional Materials |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/139962 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation / Ya.A. Shybiko, I.A. Shaykevich, L.Yu. Melnichenko // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 1. — С. 161-163. — Бібліогр.: 6 назв. — англ. |