Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems

The β-(Co-Cu) fcc solid solution (SS) in multilayer Cu/Co nanocrystalline films (layer number 2 to 8) at ultra-small individual layer thickness (maх. 10 nm) has been studied. The electrophysical properties (resistivity and temperature resistance coefficient) of the film alloys,the cor...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Functional Materials
Datum:2006
Hauptverfasser: Protsenko, I.Yu., Cheshko, I.V., Javorsky, J.
Format: Artikel
Sprache:English
Veröffentlicht: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2006
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140072
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems / I.Yu. Protsenko, I.V. Cheshko, J. Javorsky // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 219-222. — Бібліогр.: 18 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-140072
record_format dspace
spelling Protsenko, I.Yu.
Cheshko, I.V.
Javorsky, J.
2018-06-22T13:23:33Z
2018-06-22T13:23:33Z
2006
Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems / I.Yu. Protsenko, I.V. Cheshko, J. Javorsky // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 219-222. — Бібліогр.: 18 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140072
The β-(Co-Cu) fcc solid solution (SS) in multilayer Cu/Co nanocrystalline films (layer number 2 to 8) at ultra-small individual layer thickness (maх. 10 nm) has been studied. The electrophysical properties (resistivity and temperature resistance coefficient) of the film alloys,the correlation thereof with the layer number, the total effective thicknessand thecomponent concentrations have been established.
Изучены условия формирования твердого раствора β-(Co-Cu) в многослойных нанокристаллических пленках (число слоев от 2 до 8) на основе CО и Cu с ультрамалой эффективной толщиной отдельных слоев (не более 10 нм). Исследованы электрофизические свойства (удельное сопротивление и ТКС) пленочных сплавов, установлена их корреляция с числом слоев, общей эффективной толщиной и концентрацией компонент.
Вивчено умови формування твердого розчину β-(Co-Cu) у багатошарових нанокристалiчних плiвках (кiлькiсть шарiв вiд 2 до 8) на основi CО та Cu з ультрамалою товщиною окремих шарiв (не бiльше 10 нм). Дослiджено електрофiзичнi властивостi (питомий опiр та ТКО) плiвкових сплавiв, встановлено їх кореляцiю з кiлькiстю шарiв, загальною ефективною товщиною та концентрацiєю компонент.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
Утворення твердого розчину в ультратонких плівкових системах на основі Cu та Co
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
spellingShingle Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
Protsenko, I.Yu.
Cheshko, I.V.
Javorsky, J.
title_short Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
title_full Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
title_fullStr Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
title_full_unstemmed Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems
title_sort solid solution formation in cu/co ultrathin film systems
author Protsenko, I.Yu.
Cheshko, I.V.
Javorsky, J.
author_facet Protsenko, I.Yu.
Cheshko, I.V.
Javorsky, J.
publishDate 2006
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Утворення твердого розчину в ультратонких плівкових системах на основі Cu та Co
description The β-(Co-Cu) fcc solid solution (SS) in multilayer Cu/Co nanocrystalline films (layer number 2 to 8) at ultra-small individual layer thickness (maх. 10 nm) has been studied. The electrophysical properties (resistivity and temperature resistance coefficient) of the film alloys,the correlation thereof with the layer number, the total effective thicknessand thecomponent concentrations have been established. Изучены условия формирования твердого раствора β-(Co-Cu) в многослойных нанокристаллических пленках (число слоев от 2 до 8) на основе CО и Cu с ультрамалой эффективной толщиной отдельных слоев (не более 10 нм). Исследованы электрофизические свойства (удельное сопротивление и ТКС) пленочных сплавов, установлена их корреляция с числом слоев, общей эффективной толщиной и концентрацией компонент. Вивчено умови формування твердого розчину β-(Co-Cu) у багатошарових нанокристалiчних плiвках (кiлькiсть шарiв вiд 2 до 8) на основi CО та Cu з ультрамалою товщиною окремих шарiв (не бiльше 10 нм). Дослiджено електрофiзичнi властивостi (питомий опiр та ТКО) плiвкових сплавiв, встановлено їх кореляцiю з кiлькiстю шарiв, загальною ефективною товщиною та концентрацiєю компонент.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140072
citation_txt Solid solution formation in Cu/Co ultrathin film systems / I.Yu. Protsenko, I.V. Cheshko, J. Javorsky // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 219-222. — Бібліогр.: 18 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT protsenkoiyu solidsolutionformationincucoultrathinfilmsystems
AT cheshkoiv solidsolutionformationincucoultrathinfilmsystems
AT javorskyj solidsolutionformationincucoultrathinfilmsystems
AT protsenkoiyu utvorennâtverdogorozčinuvulʹtratonkihplívkovihsistemahnaosnovícutaco
AT cheshkoiv utvorennâtverdogorozčinuvulʹtratonkihplívkovihsistemahnaosnovícutaco
AT javorskyj utvorennâtverdogorozčinuvulʹtratonkihplívkovihsistemahnaosnovícutaco
first_indexed 2025-12-07T16:47:39Z
last_indexed 2025-12-07T16:47:39Z
_version_ 1850868823121461248