Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals

А novel semiconductor solid solution HgCdMnZnTe containing up to 5 % of manganese and zinc has been studied. Microhardness of these crystals and galvanomagnetic characteristics have been measured out as well as the X-ray structure analysis thereof. The band-gap width, intrinsic charge carrier conce...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2006
Автори: Popenko, N., Ivanchenko, I., Brovenko, I., Zhigalov, A., Karelin, S., Gorbatyuk, I., Ostapov, S., Dremlyuzhenko, S., Rarenko, I., Zaplitnyi, R., Fodchuk, I., Deibuk, V.G.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2006
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140079
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals / N. Popenko, I. Ivanchenko, I. Brovenko, A. Zhigalov, S. Karelin, I. Gorbatyuk, S. Ostapov, S. Dremlyuzhenko, I. Rarenko, R. Zaplitnyi, I. Fodchuk, V.G. Deibuk // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 249-254. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-140079
record_format dspace
spelling Popenko, N.
Ivanchenko, I.
Brovenko, I.
Zhigalov, A.
Karelin, S.
Gorbatyuk, I.
Ostapov, S.
Dremlyuzhenko, S.
Rarenko, I.
Zaplitnyi, R.
Fodchuk, I.
Deibuk, V.G.
2018-06-22T13:51:38Z
2018-06-22T13:51:38Z
2006
Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals / N. Popenko, I. Ivanchenko, I. Brovenko, A. Zhigalov, S. Karelin, I. Gorbatyuk, S. Ostapov, S. Dremlyuzhenko, I. Rarenko, R. Zaplitnyi, I. Fodchuk, V.G. Deibuk // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 249-254. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140079
А novel semiconductor solid solution HgCdMnZnTe containing up to 5 % of manganese and zinc has been studied. Microhardness of these crystals and galvanomagnetic characteristics have been measured out as well as the X-ray structure analysis thereof. The band-gap width, intrinsic charge carrier concentration and mobility have been determined. It is shown that the novel material has more perfect crystal structure as compared to HgCdTe. The obtained data allow announcing this material as an alternative one for manufacturing effective infrared detectors operating in the 3-5 µm and 8-14 µm spectral ranges.
Представлено результати дослiдження нового твердого розчину HgCdMnZnTe 3 вмiстом марганцю та цинку до 5 %. Проведенi дослiдження механiчних властивостей цих кристалiв та гальваномагнiтнi вимiрювання, а також зроблений їx рентгеноструктурний аналiз. Визначено ширину забороненої зони, концентрацiю та рухливiсть власних носiїв струму. Показано, що новий матерiал має бiльш досконалу кристалiчну структуру у порiвняннi 3 HgCdMnZnTe. Отриманi данi ДозволяютЬ зробити висновок про те, що даний матерiал може бути розглянутий як альтернативний при створеннi ефективних фотоприймачiв, що працюють у 3-5 мкм та 8-14 мкм спектральних дiапазонах.
Представлены результаты исследования нового полупроводникового твердого раствора HgCdMnZnTe с содержанием марганца и цинка До 5 %. Проведены исследования механических свойств и гальваномагнитные измерения этих кристаллов, а также проведен их рентгеноструктурный анализ. Определены основные электрофизические параметры, такие как ширина запрещенной зоны, концентрация и подвижность собственных носителей заряда. Показано, что новый материал имеет более совершенную кристаллическую структуру по сравнению с HgCdTe. Полученные данные позволяют сделать вывод о том, что данный материал может рассматриваться как альтернативный при создании эффективных фотоприемников, работающих в спектральных диапазонах 3-5 мкм и 8-14 мкм.
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals
Деякі характеристики напівпровідникового твердого розчину кристалів HgCdMnZnTe
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals
spellingShingle Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals
Popenko, N.
Ivanchenko, I.
Brovenko, I.
Zhigalov, A.
Karelin, S.
Gorbatyuk, I.
Ostapov, S.
Dremlyuzhenko, S.
Rarenko, I.
Zaplitnyi, R.
Fodchuk, I.
Deibuk, V.G.
title_short Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals
title_full Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals
title_fullStr Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals
title_full_unstemmed Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals
title_sort some characteristics of semiconductor hgcdmnznte solid solution crystals
author Popenko, N.
Ivanchenko, I.
Brovenko, I.
Zhigalov, A.
Karelin, S.
Gorbatyuk, I.
Ostapov, S.
Dremlyuzhenko, S.
Rarenko, I.
Zaplitnyi, R.
Fodchuk, I.
Deibuk, V.G.
author_facet Popenko, N.
Ivanchenko, I.
Brovenko, I.
Zhigalov, A.
Karelin, S.
Gorbatyuk, I.
Ostapov, S.
Dremlyuzhenko, S.
Rarenko, I.
Zaplitnyi, R.
Fodchuk, I.
Deibuk, V.G.
publishDate 2006
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Деякі характеристики напівпровідникового твердого розчину кристалів HgCdMnZnTe
description А novel semiconductor solid solution HgCdMnZnTe containing up to 5 % of manganese and zinc has been studied. Microhardness of these crystals and galvanomagnetic characteristics have been measured out as well as the X-ray structure analysis thereof. The band-gap width, intrinsic charge carrier concentration and mobility have been determined. It is shown that the novel material has more perfect crystal structure as compared to HgCdTe. The obtained data allow announcing this material as an alternative one for manufacturing effective infrared detectors operating in the 3-5 µm and 8-14 µm spectral ranges. Представлено результати дослiдження нового твердого розчину HgCdMnZnTe 3 вмiстом марганцю та цинку до 5 %. Проведенi дослiдження механiчних властивостей цих кристалiв та гальваномагнiтнi вимiрювання, а також зроблений їx рентгеноструктурний аналiз. Визначено ширину забороненої зони, концентрацiю та рухливiсть власних носiїв струму. Показано, що новий матерiал має бiльш досконалу кристалiчну структуру у порiвняннi 3 HgCdMnZnTe. Отриманi данi ДозволяютЬ зробити висновок про те, що даний матерiал може бути розглянутий як альтернативний при створеннi ефективних фотоприймачiв, що працюють у 3-5 мкм та 8-14 мкм спектральних дiапазонах. Представлены результаты исследования нового полупроводникового твердого раствора HgCdMnZnTe с содержанием марганца и цинка До 5 %. Проведены исследования механических свойств и гальваномагнитные измерения этих кристаллов, а также проведен их рентгеноструктурный анализ. Определены основные электрофизические параметры, такие как ширина запрещенной зоны, концентрация и подвижность собственных носителей заряда. Показано, что новый материал имеет более совершенную кристаллическую структуру по сравнению с HgCdTe. Полученные данные позволяют сделать вывод о том, что данный материал может рассматриваться как альтернативный при создании эффективных фотоприемников, работающих в спектральных диапазонах 3-5 мкм и 8-14 мкм.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140079
citation_txt Some characteristics of semiconductor HgCdMnZnTe solid solution crystals / N. Popenko, I. Ivanchenko, I. Brovenko, A. Zhigalov, S. Karelin, I. Gorbatyuk, S. Ostapov, S. Dremlyuzhenko, I. Rarenko, R. Zaplitnyi, I. Fodchuk, V.G. Deibuk // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 249-254. — Бібліогр.: 12 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT popenkon somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT ivanchenkoi somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT brovenkoi somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT zhigalova somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT karelins somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT gorbatyuki somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT ostapovs somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT dremlyuzhenkos somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT rarenkoi somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT zaplitnyir somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT fodchuki somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT deibukvg somecharacteristicsofsemiconductorhgcdmnzntesolidsolutioncrystals
AT popenkon deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT ivanchenkoi deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT brovenkoi deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT zhigalova deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT karelins deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT gorbatyuki deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT ostapovs deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT dremlyuzhenkos deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT rarenkoi deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT zaplitnyir deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT fodchuki deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
AT deibukvg deâkíharakteristikinapívprovídnikovogotverdogorozčinukristalívhgcdmnznte
first_indexed 2025-12-07T15:30:51Z
last_indexed 2025-12-07T15:30:51Z
_version_ 1850863991448928256