Спектроскопия аморфного углерода на стеклянной подложке и на тонком слое меди

• Опубліковано в: : Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
• Дата: 2017
• Автори: Барабаш, М.Ю., Колесниченко, А.А., Леонов, Д.С.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2017
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140674
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Спектроскопия аморфного углерода на стеклянной подложке и на тонком слое меди / М.Ю. Барабаш, А.А. Колесниченко, Д.С. Леонов // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2017. — Т. 15, № 4. — С. 757-769. — Бібліогр.: 30 назв. — рос.

В работе проведены исследования оптических свойств тонких углеродных плёнок на поверхности стеклянной подложки и на поверхности тонкого слоя меди, полученных методом термического напыления. Структура и стехиометрия полученных плёнок были исследованы с помощью комбинационной спектроскопии. Приведены спектры комбинационного рассеяния (СКР) поверхности образцов, полученных при разных режимах напыления. В роботі проведено дослідження оптичних властивостей тонких вуглецевих плівок на поверхні скляної підкладинки та на поверхні тонкого шару міді, одержаних методою термічного напорошення. Структура та стехіометрія одержаних плівок були досліджені за допомогою комбінаційної спектроскопії. Наведено спектри комбінаційного розсіяння (СКР) поверхні зразків, одержаних при різних режимах напорошення. In this work, the optical properties of thin carbon films obtained by the thermal spraying on the surface of a glass substrate and on the surface of a thin copper layer are studied. The structure and stoichiometry of fabricated films are investigated using the Raman spectroscopy. The Raman spectra of surface samples obtained under different deposition regimes are presented.