Анализ и экспериментальная апробация моделей отказов дефектных ИЭТ - Ленков, С.В.; Фишер, З.А.; Зубарев, В.В. (Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 1998)
Проанализированы процесс и модели отказов ИЭТ из-за механических напряжений и диффузионных процессов. The process and the models of EEA (electronic engineering articles) failures because of stress and diffusion processes have been analysed.