Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон
Оборудование контроля основано на электронном сканировании поперечного распределения интенсивности излучения световода. The equipment of control is based on electronic seanning of cross distribution of radiation intensity....
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
|---|---|
| Дата: | 1998 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
1998
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140700 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Технологический контроль диаметра модового поля одномодовых оптических волокон / И.Ш. Невлюдов, А.И. Филипенко // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 1. — С. 22-24. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |