Новосядлый, С. (1998). Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Новосядлый, С.П. "Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 1998.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Новосядлый, С.П. "Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 1998.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.