Buchumschlag

Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:	1998
1. Verfasser:	Новосядлый, С.П.
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1998
Schlagworte:	Депонированные рукописи
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140766
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Геттерирование примесей и дефектов в системной технологии микроэлектроники БИС / С.П. Новосядлый // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 2. — С. 39. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Технология локальной изоляции активных элементов больших интегральных схем
von: Новосядлый, С.П.
Veröffentlicht: (1998)

Юстировка пороговых напряжений в технологии БИС
von: Новосядлый, С.П., et al.
Veröffentlicht: (1999)

Про першоздання Києва
von: Даниленко, В.М.
Veröffentlicht: (2012)

Плазменная технология формирования субмикронных структур БИС
von: Новосядлый, С.П.
Veröffentlicht: (2002)

Проблемы и задачи развития технологий микроэлектроники в Украине
von: Перевертайло, В.Л.
Veröffentlicht: (2007)

Проблемы и задачи развития технологий микроэлектроники в Украине
von: Перевертайло, В.Л.
Veröffentlicht: (2006)

Проблемы и задачи развития технологий микроэлектроники в Украине
von: Perevertailo, V. L.
Veröffentlicht: (2007)

Изменение сверхпроводящих, транспортных и микроскопических характеристик переходных металлов при введении примесей внедрения и деформационных дефектов
von: Соколенко, В.И., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Датчики ускорений на базе микромеханики и микроэлектроники
von: Голуб, В.С.
Veröffentlicht: (2001)

Программа развития конкурентоспособных направлений микроэлектроники в Украине
von: Падалко, В.Г., et al.
Veröffentlicht: (1999)

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
von: Попов, В.М., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Вопросы системной надежности доменного производства
von: Бородулин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Получение высокочистых галлия, цинка, кадмия и теллура для микроэлектроники
von: Ковтун, Г.П., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Онтологические модели систем и процесса системной инженерии
von: Межуев, В.И.
Veröffentlicht: (2010)

Наноструктурированные пленки ZnO для устройств микроэлектроники и оптики
von: Белянин, А.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Физика Земли, атмосферы и геокосмоса в свете системной парадигмы
von: Черногор, Л.Ф.
Veröffentlicht: (2003)

Усовершенствованный метод выявления «горячих точек» в изделиях микроэлектроники
von: Popov, V. M., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Основы системной методологии современной полипарадигмальной лингвистики и терминоведения
von: Комарова, З.И.
Veröffentlicht: (2013)

Мировые тенденции развития микроэлектроники и место Республики Беларусь в этом процессе
von: Белоус, А.И., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Наноструктурированные пленки ZnO для устройств микроэлектроники и оптики
von: Belyanin, A. F., et al.
Veröffentlicht: (2006)

Современное сборочное оборудование для микроэлектроники из Беларуси
Veröffentlicht: (1998)

Энергия активации электровосстановления бис-гидроксиэтилиминодиацетатных комплексов палладия
von: Кублановский, В.С., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Комплексный подход к получению высокочистых материалов для микроэлектроники
von: Ажажа, В.М., et al.
Veröffentlicht: (2002)

Влияние немагнитных примесей и дефектов на сверхпроводящие парные корреляции с s*-и dx²-y² -симметрией и локализация конденсата куперовских пар в высокотемпературных сверхпроводниках
von: Елесин, В.Ф., et al.
Veröffentlicht: (1996)

Точность формообразования плоских поверхностей деталей оптики и микроэлектроники при полировании
von: Филатов, Ю.Д., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Технология системной интеграции аппаратных и программных средств зашиты информации
von: Алишов, Н.И., et al.
Veröffentlicht: (2010-12)

Аппликация системной методологии в социологической и статистической рефлексии современных трансграничных процессов
von: Устич, С.
Veröffentlicht: (2014)

Мировые тенденции развития микроэлектроники и место Республики Беларусь в этом процессе
von: Belous, A. I., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Новые направления в развитии технологии очистки природной воды от тонкодисперсных лиофильных примесей флокуляцией и флотацией
von: Рулёв, Н.Н.
Veröffentlicht: (2008)

БИС электронных пластиковых карт с предварительной оплатой
von: Сидоренко, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2001)

Специализированные БИС на основе базовых матричных кристаллов
von: Грунянская, В.П., et al.
Veröffentlicht: (2000)

Синтез 4,4′-бис(нонафторобифенил-4-оксифенил)-бис(трифторометил)метана и на его основе лестничного полиэфира, содержащего спиробисиндановые фрагменты
von: Ткаченко, И.М., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Иммуногистохимический профиль пораженной кожи при системной склеродермии
von: Романенко, К.В.
Veröffentlicht: (2010)

Разработка системной оптимизации протоколов криоконсервирования клеточных суспензий
von: Хофманн, Н., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Мониторинг точности формы плоских поверхностей в процессе полирования деталей оптики и микроэлектроники
von: Филатов, Ю.Д., et al.
Veröffentlicht: (2017)

Конденсация примесей в жидком и твердом гелии
von: Гордон, Е.Б.
Veröffentlicht: (2004)

Методы минимизации энергопотребления при проектировании КМОП БИС
von: Belous, A. I., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Разработка и исследование технологии выплавки слитка ЭШП диаметром 800 мм без поверхностных дефектов
von: Давидченко, С.В., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Развитие политики занятости в условиях системной трансформации зкономики Польши
von: Сиройч, З.
Veröffentlicht: (2007)

Построение модели дистанционного образования на основе системной методологии
von: Панкратова, Н.Д., et al.
Veröffentlicht: (2002)