Buchumschlag

Установка автоматического контроля топологии фотошаблонов ЭМ-602ЭАМ

Предназначена для автоматического обнаружения дефектов топологии фотошаблонов, используемых для производства интегральных микросхем при проекционной литографии в масштабе 10:1 и 5:1....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Datum:	1998
Format:	Artikel
Sprache:	Russisch
Veröffentlicht:	Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1998
Schlagworte:	Научно-промышленные центры СНГ
Online Zugang:	https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140770
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:	Установка автоматического контроля топологии фотошаблонов ЭМ-602ЭАМ // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 3-4. — С. 15. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Ähnliche Einträge

Установка ремонта топологии на фотошаблонах ЭМ-5001АМ
Veröffentlicht: (1999)

Установка предварительной настройки кварцевых резонаторов ЭМ-6310
von: Сасин, М.К., et al.
Veröffentlicht: (1999)

Широкоформатная система экспонирования ЭМ-5034
Veröffentlicht: (1999)

Многоканальный лазерный генератор изображений ЭМ-5089В
Veröffentlicht: (1998)

Многоканальный лазерный генератор изображений ЭМ-5299Б
Veröffentlicht: (1998)

Современное сборочное оборудование для микроэлектроники из Беларуси
Veröffentlicht: (1998)

КБТЭМ-ОМО - современный центр проектирования и производства оптико-механического и контрольно-измерительного оборудования
Veröffentlicht: (1998)

Львовское Научно-производственное предприятие "Карат"
Veröffentlicht: (1998)

Микроскоп МКИ-2М
Veröffentlicht: (1999)

ГНПП «КБТЭМ-СО» — официальный дилер немецкого филиала фирмы SМС в Республике Беларусь
von: Волков, А.С.
Veröffentlicht: (1999)

Харьковский государственный технический университет радиоэлектроники
Veröffentlicht: (1998)

Позиционирование изображений фотошаблонов в системах автоматизированного оптического контроля
von: Krylov, V. N., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Система контроля топологии печатных плат
von: Байрак, С.А., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Система автоматического управления и контроля контактной точечной сварки
von: Гавриш, В.С., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Модернизация генератора изображений ЭМ-559 БМ
von: Лопаткин, А.В., et al.
Veröffentlicht: (1998)

Автоматизированная система подготовки информации для изготовления фотошаблонов
von: Шестаков, Е.А., et al.
Veröffentlicht: (2008)

Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
von: Козина, Ю.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Система искусственного интеллекта для технической диагностики фотошаблонов
von: Kozina, Yu. Yu., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Построение многоканальных устройств автоматического контроля с учетом свойств наблюдаемости датчиков
von: Сопель, М.Ф., et al.
Veröffentlicht: (2012)

Assessment of Phenol Detoxification by Rhodococcus aetherivorans USM Ac-602 Using the Phytotesting Method
von: L. A. Khomenko, et al.
Veröffentlicht: (2021)

Установка для экспресс-контроля глубины охлаждения термоэлектрических микромодулей Пельтье
von: Ascheulov, А. А., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Об экспоненциальной топологии
von: Линичук, Р.С., et al.
Veröffentlicht: (1983)

Установка для контроля глубины выгорания отработавших тепловыделяющих сборок РБМК1000
von: Зайцевский, И.Л., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
von: Щербакова, Г.Ю., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Система автоматического управления и контроля процесса контактной точечной сварки КСУ КС 02
von: Руденко, П.М., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Влияние самоинтеркаляции меди на термоэлектрические свойства легированных кристаллов Bi2Te3 в процессе их хранения
von: Aliyeva, A. P., et al.
Veröffentlicht: (2016)

Эффективность методов автоматического распознавания отпечатков электрода при точечной сварке трехслойных сотовых конструкций
von: Лазоренко, Я.П., et al.
Veröffentlicht: (2009)

О близости N-позиционных управлений в топологии игольчатых вариаций и топологии скользящих режимов
von: Руденко, А.В., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Основные положения метода анализа событий для автоматического контроля и слежения за нераспространением радиоактивных материалов
von: Буртняк, В.М.
Veröffentlicht: (2010)

Aвтоматизированный спектрометр глубоких уровней для исследования полупроводниковых структур
von: Boiko, Yu. V., et al.
Veröffentlicht: (2007)

Информационные технические системы анализа изображений удаленных объектов, работающие в ЭМ-волнах
von: Сальников, И.И.
Veröffentlicht: (2010)

Очановские топологии на пространстве замкнутых подгрупп
von: Протасов, И.В., et al.
Veröffentlicht: (1989)

Анализ событий как метод повышения эффективности систем автоматического контроля и слежения за нераспространением радиоактивных материалов
von: Забулонов, Ю.Л., et al.
Veröffentlicht: (2009)

Повышение помехоустойчивости бинаризации изображений фотошаблонов в пространстве вейвлет-преобразования
von: Shcherbakova, G. Yu., et al.
Veröffentlicht: (2011)

Современные системы радиационного неразрушающего контроля
von: Троицкий, В.А., et al.
Veröffentlicht: (2015)

Применение нечеткой логики для принятия решений в системе автоматического контроля и слежения за нераспространением радиоактивных материалов
von: Забулонов, Ю.Л., et al.
Veröffentlicht: (2010)

Телевизионная гидирующая установка
von: Сухов, П.П., et al.
Veröffentlicht: (1988)

Нейросетевая технология распознавания объектов топологии интегральных микросхем
von: Дудкин, А.А.
Veröffentlicht: (2008)

Неокогнитрон для распознавания объектов топологии интегральных микросхем
von: Дудкин, А.А.
Veröffentlicht: (2008)

О топологии путей нормализации в реляционном каркасе
von: Панченко, Б.Е., et al.
Veröffentlicht: (2011)