Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур

Разработана технология изготовления КЭС для биполярных интегральных схем без автолегирования и смещения скрытого слоя. The manufacturing technology of silicon epitaxial structure of bipolar integrated circuits without autodoping and bias of buried layer has been developed....

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:1998
Main Author: Новосядлый, С.П.
Format: Article
Language:Russian
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 1998
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140778
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур / С.П. Новосядлый // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 3-4. — С. 23-25. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
_version_ 1862741786035748864
author Новосядлый, С.П.
author_facet Новосядлый, С.П.
citation_txt Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур / С.П. Новосядлый // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 3-4. — С. 23-25. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
collection DSpace DC
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
description Разработана технология изготовления КЭС для биполярных интегральных схем без автолегирования и смещения скрытого слоя. The manufacturing technology of silicon epitaxial structure of bipolar integrated circuits without autodoping and bias of buried layer has been developed.
first_indexed 2025-12-07T20:21:44Z
format Article
fulltext
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-140778
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
issn 2225-5818
language Russian
last_indexed 2025-12-07T20:21:44Z
publishDate 1998
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
record_format dspace
spelling Новосядлый, С.П.
2018-07-15T11:30:41Z
2018-07-15T11:30:41Z
1998
Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур / С.П. Новосядлый // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 1998. — № 3-4. — С. 23-25. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
2225-5818
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140778
Разработана технология изготовления КЭС для биполярных интегральных схем без автолегирования и смещения скрытого слоя.
The manufacturing technology of silicon epitaxial structure of bipolar integrated circuits without autodoping and bias of buried layer has been developed.
ru
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Технологические процессы
Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
Article
published earlier
spellingShingle Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
Новосядлый, С.П.
Технологические процессы
title Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
title_full Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
title_fullStr Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
title_full_unstemmed Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
title_short Технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
title_sort технология формирования высококачественных кремниевых эпитаксиальных структур
topic Технологические процессы
topic_facet Технологические процессы
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/140778
work_keys_str_mv AT novosâdlyisp tehnologiâformirovaniâvysokokačestvennyhkremnievyhépitaksialʹnyhstruktur