Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией

Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажнокасторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально –логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика. Приведені результати р...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Електротехніка і електромеханіка
Дата:2006
Автори: Дубийчук, О.Ю., Рудаков, В.В.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2006
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142640
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией / О.Ю. Дубийчук, В.В. Рудаков // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 1. — С. 71-75. — Бібліогр.: 14 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажнокасторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально –логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика. Приведені результати ресурсних випробувань секцій високовольтних імпульсних конденсаторів з паперовокасторовим діелектриком. Визначені залежності середнього ресурсу і середнього квадратичного відхилення для нормально-логарифмічного розподілу відмов від товщини діелектрика. Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.
ISSN:2074-272X