Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией
Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажнокасторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально –логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика. Приведені результати р...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Електротехніка і електромеханіка |
|---|---|
| Дата: | 2006 |
| Автори: | , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
2006
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142640 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Экспериментальное определение показателей надежности секций конденсаторов с бумажно-касторовой изоляцией / О.Ю. Дубийчук, В.В. Рудаков // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 1. — С. 71-75. — Бібліогр.: 14 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Приведены результаты ресурсных испытаний секций высоковольтных импульсных конденсаторов с бумажнокасторовым диэлектриком. Определены зависимости среднего ресурса и среднего квадратического отклонения для нормально –логарифмического распределения отказов от толщины диэлектрика.
Приведені результати ресурсних випробувань секцій високовольтних імпульсних конденсаторів з паперовокасторовим діелектриком. Визначені залежності середнього ресурсу і середнього квадратичного відхилення для нормально-логарифмічного розподілу відмов від товщини діелектрика.
Results of longevity testing of high-voltage impulse capacitor sections with paper-castor dielectric are given. Mean life and standard deviation for normal logarithmic failure distribution are found as function of the dielectric thickness.
|
|---|---|
| ISSN: | 2074-272X |