Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах

Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах

Определена энергия излучения электромагнитных колебаний в системе полупроводниковая плазма – поток заряженных частиц при возбуждении колебаний в субмиллиметровом диапазоне. Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия электромагнитных колебаний и токов, возникающих вследствие воздействия...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Електротехніка і електромеханіка
Datum:2006
Hauptverfasser: Кравченко, В.И., Яковенко, И.В., Глухов, Е.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2006
Schlagworte:
Техніка сильних електричних та магнітних полів
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142760
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах / В.И. Кравченко, И.В. Яковенко, Е.В. Глухов // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 5. — С. 60-63. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-142760
record_format dspace
spelling Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Глухов, Е.В.
2018-10-15T16:26:07Z
2018-10-15T16:26:07Z
2006
Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах / В.И. Кравченко, И.В. Яковенко, Е.В. Глухов // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 5. — С. 60-63. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
2074-272X
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142760
621.318
Определена энергия излучения электромагнитных колебаний в системе полупроводниковая плазма – поток заряженных частиц при возбуждении колебаний в субмиллиметровом диапазоне. Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия электромагнитных колебаний и токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий, содержащих полупроводниковые сверхрешетки.
Визначено вирази для енергії випромінювання електромагнітних коливань у системі напівпровідникова плазма – потік заряджених частинок при збудженні коливань у субміліметровому діапазоні. Запропонована аналітична модель механізму взаємодії електромагнітних коливань та струмів заряджених частинок, що виникає внаслідок дії імпульсного електромагнітного випромінювання у провідних елементах електрорадіовиробів, що містять напівпровідникові надграти.
Electromagnetic oscillation energy in a system of semiconducting plasma – charged particle flux is determined under the oscillation excitation in a submillimeter range. An analytical model of interaction mechanism for the electromagnetic oscillation and currents arising due to action of electromagnetic radiation in current – conducting elements of electric radio apparatus containing semiconductive super lattices is presented.
ru
Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
Електротехніка і електромеханіка
Техніка сильних електричних та магнітних полів
Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
Energy losses in a charged particle flux due to electromagnetic oscillation excitation in semiconductor structures
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
spellingShingle Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Глухов, Е.В.
Техніка сильних електричних та магнітних полів
title_short Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
title_full Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
title_fullStr Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
title_full_unstemmed Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
title_sort потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах
author Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Глухов, Е.В.
author_facet Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Глухов, Е.В.
topic Техніка сильних електричних та магнітних полів
topic_facet Техніка сильних електричних та магнітних полів
publishDate 2006
language Russian
container_title Електротехніка і електромеханіка
publisher Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
format Article
title_alt Energy losses in a charged particle flux due to electromagnetic oscillation excitation in semiconductor structures
description Определена энергия излучения электромагнитных колебаний в системе полупроводниковая плазма – поток заряженных частиц при возбуждении колебаний в субмиллиметровом диапазоне. Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия электромагнитных колебаний и токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий, содержащих полупроводниковые сверхрешетки. Визначено вирази для енергії випромінювання електромагнітних коливань у системі напівпровідникова плазма – потік заряджених частинок при збудженні коливань у субміліметровому діапазоні. Запропонована аналітична модель механізму взаємодії електромагнітних коливань та струмів заряджених частинок, що виникає внаслідок дії імпульсного електромагнітного випромінювання у провідних елементах електрорадіовиробів, що містять напівпровідникові надграти. Electromagnetic oscillation energy in a system of semiconducting plasma – charged particle flux is determined under the oscillation excitation in a submillimeter range. An analytical model of interaction mechanism for the electromagnetic oscillation and currents arising due to action of electromagnetic radiation in current – conducting elements of electric radio apparatus containing semiconductive super lattices is presented.
issn 2074-272X
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142760
citation_txt Потери энергии потока заряженных частиц на возбуждение электромагнитных колебаний в полупроводниковых структурах / В.И. Кравченко, И.В. Яковенко, Е.В. Глухов // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 5. — С. 60-63. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT kravčenkovi poteriénergiipotokazarâžennyhčasticnavozbuždenieélektromagnitnyhkolebaniivpoluprovodnikovyhstrukturah
AT âkovenkoiv poteriénergiipotokazarâžennyhčasticnavozbuždenieélektromagnitnyhkolebaniivpoluprovodnikovyhstrukturah
AT gluhovev poteriénergiipotokazarâžennyhčasticnavozbuždenieélektromagnitnyhkolebaniivpoluprovodnikovyhstrukturah
AT kravčenkovi energylossesinachargedparticlefluxduetoelectromagneticoscillationexcitationinsemiconductorstructures
AT âkovenkoiv energylossesinachargedparticlefluxduetoelectromagneticoscillationexcitationinsemiconductorstructures
AT gluhovev energylossesinachargedparticlefluxduetoelectromagneticoscillationexcitationinsemiconductorstructures
first_indexed 2025-11-28T02:22:52Z
last_indexed 2025-11-28T02:22:52Z
_version_ 1850853212211380224

Ähnliche Einträge