Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах

Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах

Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл – диэлектрик – полупроводник. Определен инкремент неустойчивости, обу...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Електротехніка і електромеханіка
Datum:2006
Hauptverfasser: Кравченко, В.И., Яковенко, И.В., Лосев, Ф.В.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2006
Schlagworte:
Техніка сильних електричних та магнітних полів
Online Zugang:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142761
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах / В.И. Кравченко, И.В. Яковенко, Ф.В. Лосев // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 5. — С. 64-66. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-142761
record_format dspace
spelling Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Лосев, Ф.В.
2018-10-15T16:28:14Z
2018-10-15T16:28:14Z
2006
Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах / В.И. Кравченко, И.В. Яковенко, Ф.В. Лосев // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 5. — С. 64-66. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
2074-272X
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142761
621.318
Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл – диэлектрик – полупроводник. Определен инкремент неустойчивости, обусловленный взаимодействием такого рода, определяющий возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне.
Запропонована аналітична модель механізму взаємодії струмів, що виникають внаслідок дії імпульсного електромагнітного випромінювання у провідних елементах електрорадіовиробів, з власними електромагнітними коливаннями структур метал – діелектрик – напівпровідник. Визначено інкремент нестійкості, обумовлений взаємодією такого роду, що визначає збудження коливань у субміліметровому діапазоні.
The paper presents an analytical model of an interaction mechanism for currents arising due to action of electromagnetic radiation in current – conducting elements of electric radio apparatus with inner electromagnetic oscillations of metal – dielectric – semiconductor structures. An instability increment that results from this interaction and specifies oscillation excitation in a submillimeter range is determined.
ru
Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
Електротехніка і електромеханіка
Техніка сильних електричних та магнітних полів
Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
Instability of surface waves at their interaction with a charged particle flux in semiconductor structure
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
spellingShingle Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Лосев, Ф.В.
Техніка сильних електричних та магнітних полів
title_short Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
title_full Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
title_fullStr Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
title_full_unstemmed Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
title_sort неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах
author Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Лосев, Ф.В.
author_facet Кравченко, В.И.
Яковенко, И.В.
Лосев, Ф.В.
topic Техніка сильних електричних та магнітних полів
topic_facet Техніка сильних електричних та магнітних полів
publishDate 2006
language Russian
container_title Електротехніка і електромеханіка
publisher Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
format Article
title_alt Instability of surface waves at their interaction with a charged particle flux in semiconductor structure
description Предложена аналитическая модель механизма взаимодействия токов, возникающих вследствие воздействия электромагнитного излучения в проводящих элементах электрорадиоизделий с собственными электромагнитными колебаниями структур металл – диэлектрик – полупроводник. Определен инкремент неустойчивости, обусловленный взаимодействием такого рода, определяющий возбуждение колебаний в субмиллиметровом диапазоне. Запропонована аналітична модель механізму взаємодії струмів, що виникають внаслідок дії імпульсного електромагнітного випромінювання у провідних елементах електрорадіовиробів, з власними електромагнітними коливаннями структур метал – діелектрик – напівпровідник. Визначено інкремент нестійкості, обумовлений взаємодією такого роду, що визначає збудження коливань у субміліметровому діапазоні. The paper presents an analytical model of an interaction mechanism for currents arising due to action of electromagnetic radiation in current – conducting elements of electric radio apparatus with inner electromagnetic oscillations of metal – dielectric – semiconductor structures. An instability increment that results from this interaction and specifies oscillation excitation in a submillimeter range is determined.
issn 2074-272X
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142761
citation_txt Неустойчивость поверхностных волн при их взаимодействии с потоком заряженных частиц в полупроводниковых структурах / В.И. Кравченко, И.В. Яковенко, Ф.В. Лосев // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 5. — С. 64-66. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT kravčenkovi neustoičivostʹpoverhnostnyhvolnpriihvzaimodeistviispotokomzarâžennyhčasticvpoluprovodnikovyhstrukturah
AT âkovenkoiv neustoičivostʹpoverhnostnyhvolnpriihvzaimodeistviispotokomzarâžennyhčasticvpoluprovodnikovyhstrukturah
AT losevfv neustoičivostʹpoverhnostnyhvolnpriihvzaimodeistviispotokomzarâžennyhčasticvpoluprovodnikovyhstrukturah
AT kravčenkovi instabilityofsurfacewavesattheirinteractionwithachargedparticlefluxinsemiconductorstructure
AT âkovenkoiv instabilityofsurfacewavesattheirinteractionwithachargedparticlefluxinsemiconductorstructure
AT losevfv instabilityofsurfacewavesattheirinteractionwithachargedparticlefluxinsemiconductorstructure
first_indexed 2025-12-07T16:16:54Z
last_indexed 2025-12-07T16:16:54Z
_version_ 1850866888701116416

Ähnliche Einträge