О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции

В данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов. У роботі розглядається актив...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Електротехніка і електромеханіка
Дата:2006
Автор: Павленко, Т.П.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2006
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142772
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции / Т.П. Павленко // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 6. — С. 22-24. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:В данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов. У роботі розглядається активований стан системи у конфігураційному фазовому просторі. Аналіз результатів даної роботи дозволяє створити методику розрахунку для пояснення причин можливого переміщення опорних крапок дуги по робочій поверхні контактів. The paper considers activated state of a statistic thermodynamic system in configuration phase space. Analysis of the given research results allows developing a calculation technique to explain causes of possible motion of arc reference points on the contact face.
ISSN:2074-272X