О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции

В данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов. У роботі розглядається актив...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Електротехніка і електромеханіка
Дата:2006
Автор: Павленко, Т.П.
Формат: Стаття
Мова:Russian
Опубліковано: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2006
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142772
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции / Т.П. Павленко // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 6. — С. 22-24. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-142772
record_format dspace
spelling Павленко, Т.П.
2018-10-15T19:09:05Z
2018-10-15T19:09:05Z
2006
О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции / Т.П. Павленко // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 6. — С. 22-24. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
2074-272X
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142772
621.316.933.064.4
В данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов.
У роботі розглядається активований стан системи у конфігураційному фазовому просторі. Аналіз результатів даної роботи дозволяє створити методику розрахунку для пояснення причин можливого переміщення опорних крапок дуги по робочій поверхні контактів.
The paper considers activated state of a statistic thermodynamic system in configuration phase space. Analysis of the given research results allows developing a calculation technique to explain causes of possible motion of arc reference points on the contact face.
ru
Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
Електротехніка і електромеханіка
Електричні машини та апарати
О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
On activated particles migration in contact composition element lattices
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
spellingShingle О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
Павленко, Т.П.
Електричні машини та апарати
title_short О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
title_full О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
title_fullStr О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
title_full_unstemmed О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
title_sort о миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции
author Павленко, Т.П.
author_facet Павленко, Т.П.
topic Електричні машини та апарати
topic_facet Електричні машини та апарати
publishDate 2006
language Russian
container_title Електротехніка і електромеханіка
publisher Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
format Article
title_alt On activated particles migration in contact composition element lattices
description В данной работе рассматривается активированное состояние системы в конфигурационном фазовом пространстве. Анализ результатов данной работы позволяет создать методику расчета для объяснения причин возможного перемещения опорных точек дуги по рабочей поверхности контактов. У роботі розглядається активований стан системи у конфігураційному фазовому просторі. Аналіз результатів даної роботи дозволяє створити методику розрахунку для пояснення причин можливого переміщення опорних крапок дуги по робочій поверхні контактів. The paper considers activated state of a statistic thermodynamic system in configuration phase space. Analysis of the given research results allows developing a calculation technique to explain causes of possible motion of arc reference points on the contact face.
issn 2074-272X
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/142772
citation_txt О миграциях активированных частиц в кристаллических решетках элементов контактной композиции / Т.П. Павленко // Електротехніка і електромеханіка. — 2006. — № 6. — С. 22-24. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
work_keys_str_mv AT pavlenkotp omigraciâhaktivirovannyhčasticvkristalličeskihrešetkahélementovkontaktnoikompozicii
AT pavlenkotp onactivatedparticlesmigrationincontactcompositionelementlattices
first_indexed 2025-11-27T20:16:51Z
last_indexed 2025-11-27T20:16:51Z
_version_ 1850852752867983360