Исследование токораспределения между главными контактами и шунтирующей цепью с полупроводниковым ключом при отключении тока гибридным контактором

Выполнен анализ процесса перетекания тока из цепи главных контактов в шунтирующую цепь с полупроводниковым ключом с учётом влияния на этот процесс падений напряжений как на жидком металлическом мостике, так и "короткой" дуге. Предложена физическая модель, поясняющая случайный процесс много...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Електротехніка і електромеханіка
Дата:2008
Автори: Сосков, А.Г., Рак, Н.О.
Формат: Стаття
Мова:Російська
Опубліковано: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2008
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143065
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Исследование токораспределения между главными контактами и шунтирующей цепью с полупроводниковым ключом при отключении тока гибридным контактором / А.Г. Сосков, Н.О. Рак // Електротехніка і електромеханіка. — 2008. — № 4. — С. 48-52. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:Выполнен анализ процесса перетекания тока из цепи главных контактов в шунтирующую цепь с полупроводниковым ключом с учётом влияния на этот процесс падений напряжений как на жидком металлическом мостике, так и "короткой" дуге. Предложена физическая модель, поясняющая случайный процесс многократного перетекания тока из цепи контактов в шунтирующую цепь при размыкании цепи. Виконано аналіз процесу перетікання струму з кола головних контактів в шунтуюче коло з напівпровідниковим ключем з урахуванням впливу на цей процес падінь напруг як на рідкому металевому мостику, так і "короткій" дузі. Була запропонована фізична модель, що пояснює випадковий процес багатократного перетікання струму з кола контактів в шунтуюче коло при розмиканні ланцюга. Analysis of current transition from the main contact circuit to a shunt circuit with a semiconductor switch has been performed. The analysis has been made with allowance for the influence that voltage drop both on a liquid metallic bridge and on the "short" arc has on this process. A physical model explaining an accidental process of frequent current transition from the main contact circuit to the shunt circuit under interruption of the circuit has been introduced.
ISSN:2074-272X