Исследование токораспределения между главными контактами и шунтирующей цепью с полупроводниковым ключом при отключении тока гибридным контактором
Выполнен анализ процесса перетекания тока из цепи главных контактов в шунтирующую цепь с полупроводниковым ключом с учётом влияния на этот процесс падений напряжений как на жидком металлическом мостике, так и "короткой" дуге. Предложена физическая модель, поясняющая случайный процесс много...
Saved in:
| Published in: | Електротехніка і електромеханіка |
|---|---|
| Date: | 2008 |
| Main Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут технічних проблем магнетизму НАН України
2008
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143065 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование токораспределения между главными контактами и шунтирующей цепью с полупроводниковым ключом при отключении тока гибридным контактором / А.Г. Сосков, Н.О. Рак // Електротехніка і електромеханіка. — 2008. — № 4. — С. 48-52. — Бібліогр.: 10 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Выполнен анализ процесса перетекания тока из цепи главных контактов в шунтирующую цепь с полупроводниковым ключом с учётом влияния на этот процесс падений напряжений как на жидком металлическом мостике, так и "короткой" дуге. Предложена физическая модель, поясняющая случайный процесс многократного перетекания тока из цепи контактов в шунтирующую цепь при размыкании цепи.
Виконано аналіз процесу перетікання струму з кола головних контактів в шунтуюче коло з напівпровідниковим ключем з урахуванням впливу на цей процес падінь напруг як на рідкому металевому мостику, так і "короткій" дузі. Була запропонована фізична модель, що пояснює випадковий процес багатократного перетікання струму з кола контактів в шунтуюче коло при розмиканні ланцюга.
Analysis of current transition from the main contact circuit to a shunt circuit with a semiconductor switch has been performed. The analysis has been made with allowance for the influence that voltage drop both on a liquid metallic bridge and on the "short" arc has on this process. A physical model explaining an accidental process of frequent current transition from the main contact circuit to the shunt circuit under interruption of the circuit has been introduced.
|
|---|---|
| ISSN: | 2074-272X |