Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів

Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів

Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням н...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Сверхтвердые материалы
Дата:2016
Автори: Фодчук, І.М., Борча, М.Д., Хоменко, В.Ю., Баловсяк, С.В., Ткач, В.М., Стаценко, О.О.
Формат: Стаття
Мова:Ukrainian
Опубліковано: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2016
Теми:
Получение, структура, свойства
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143856
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-143856
record_format dspace
spelling Фодчук, І.М.
Борча, М.Д.
Хоменко, В.Ю.
Баловсяк, С.В.
Ткач, В.М.
Стаценко, О.О.
2018-11-14T18:20:02Z
2018-11-14T18:20:02Z
2016
Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.
0203-3119
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143856
548.736.15:535.4
Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням на монокристал алмазу, синтезованого у системі Ni–Mn–C. Побудовано характеристичні поверхні тензорів та еліпсоїди деформацій, проаналізовано особливості їх розподілу по кристалу. Діагональні компоненти тензора визначали зі змін розподілів інтенсивності окремих смуг, інші компоненти – зі зміщення осей зон відносно їх положень на еталонній картині Кікучі.
Предложен способ определения компонент тензора деформаций по анализу распределений интенсивности обратно рассеянных электронов на картинах Кикучи. Исследовано деформационное состояние локальных участков кристалла искусственного алмаза, полученного методом температурного градиента в системе Fe–Al–C наращиванием на монокристалл алмаза, синтезированного в системе Ni–Mn–C. Построено характеристические поверхности тензоров и эллипсоиды деформаций, проанализированы особенности их распределения по кристаллу. Диагональные компоненты тензора определяли по изменению распределений интенсивности отдельных полос, другие компоненты – по смещению осей зон относительно их положений на эталонной картине Кикучи.
The authors put forward a procedure of determination of strain tensor components through the analysis of distribution of intensity of back-scattered electrons in Kikuchi patterns. The strain state has been studied in local areas of a synthetic diamond crystal produced by the temperature gradient method in the Fe–Al–C system through growing onto a diamond single crystal synthesized in the Ni–Mn–C system. Characteristic surfaces of the strain tensors and strain ellipsoids have been plotted; special features of strain distribution in the crystal have been analyzed. Diagonal tensor components have been determined from the changes of distributions of intensity of individual bands, the other components have been found from the displacements of axes of zones relative to their positions in the standard Kikuchi pattern.
uk
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
Сверхтвердые материалы
Получение, структура, свойства
Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
spellingShingle Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
Фодчук, І.М.
Борча, М.Д.
Хоменко, В.Ю.
Баловсяк, С.В.
Ткач, В.М.
Стаценко, О.О.
Получение, структура, свойства
title_short Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_full Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_fullStr Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_full_unstemmed Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
title_sort деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів
author Фодчук, І.М.
Борча, М.Д.
Хоменко, В.Ю.
Баловсяк, С.В.
Ткач, В.М.
Стаценко, О.О.
author_facet Фодчук, І.М.
Борча, М.Д.
Хоменко, В.Ю.
Баловсяк, С.В.
Ткач, В.М.
Стаценко, О.О.
topic Получение, структура, свойства
topic_facet Получение, структура, свойства
publishDate 2016
language Ukrainian
container_title Сверхтвердые материалы
publisher Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
format Article
description Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням на монокристал алмазу, синтезованого у системі Ni–Mn–C. Побудовано характеристичні поверхні тензорів та еліпсоїди деформацій, проаналізовано особливості їх розподілу по кристалу. Діагональні компоненти тензора визначали зі змін розподілів інтенсивності окремих смуг, інші компоненти – зі зміщення осей зон відносно їх положень на еталонній картині Кікучі. Предложен способ определения компонент тензора деформаций по анализу распределений интенсивности обратно рассеянных электронов на картинах Кикучи. Исследовано деформационное состояние локальных участков кристалла искусственного алмаза, полученного методом температурного градиента в системе Fe–Al–C наращиванием на монокристалл алмаза, синтезированного в системе Ni–Mn–C. Построено характеристические поверхности тензоров и эллипсоиды деформаций, проанализированы особенности их распределения по кристаллу. Диагональные компоненты тензора определяли по изменению распределений интенсивности отдельных полос, другие компоненты – по смещению осей зон относительно их положений на эталонной картине Кикучи. The authors put forward a procedure of determination of strain tensor components through the analysis of distribution of intensity of back-scattered electrons in Kikuchi patterns. The strain state has been studied in local areas of a synthetic diamond crystal produced by the temperature gradient method in the Fe–Al–C system through growing onto a diamond single crystal synthesized in the Ni–Mn–C system. Characteristic surfaces of the strain tensors and strain ellipsoids have been plotted; special features of strain distribution in the crystal have been analyzed. Diagonal tensor components have been determined from the changes of distributions of intensity of individual bands, the other components have been found from the displacements of axes of zones relative to their positions in the standard Kikuchi pattern.
issn 0203-3119
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143856
citation_txt Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT fodčukím deformacíiniistankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT borčamd deformacíiniistankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT homenkovû deformacíiniistankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT balovsâksv deformacíiniistankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT tkačvm deformacíiniistankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
AT stacenkooo deformacíiniistankristalívsintetičnogoalmazuzadanimimetodudifrakcíízvorotnorozsíânihelektronív
first_indexed 2025-11-30T22:03:47Z
last_indexed 2025-11-30T22:03:47Z
_version_ 1850858545632772096

Схожі ресурси