Cover Image

Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів

Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням н...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Сверхтвердые материалы
Date:2016
Main Authors: Фодчук, І.М., Борча, М.Д., Хоменко, В.Ю., Баловсяк, С.В., Ткач, В.М., Стаценко, О.О.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2016
Subjects:
Получение, структура, свойства
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143856
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

Similar Items

Similar Items