Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів

• Date: 2016
• Main Authors: Фодчук, І.М., Борча, М.Д., Хоменко, В.Ю., Баловсяк, С.В., Ткач, В.М., Стаценко, О.О.
• Format: Article
• Language: Ukrainian
• Published: Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України 2016
• Series: Сверхтвердые материалы
• Subjects: Получение, структура, свойства
• Online Access: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/143856
• Journal Title: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Cite this: Деформаційний стан кристалів синтетичного алмазу за даними методу дифракції зворотно розсіяних електронів / І.М. Фодчук, М.Д. Борча, В.Ю. Хоменко, С.В. Баловсяк, В.М. Ткач, О.О. Стаценко // Сверхтвердые материалы. — 2016. — № 4. — С. 67-73. — Бібліогр.: 13 назв. — укр.

Запропоновано спосіб визначення компонент тензора деформацій з аналізу розподілів інтенсивності зворотно розсіяних електронів на картинах Кікучі. Досліджено деформаційний стан локальних ділянок кристала синтетичного алмазу, отриманого методом температурного градієнта в системі Fe–Al–C нарощуванням н...