Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures

Comparative analysis of special grain boundary joints in polysilicon films with equiaxial and dendritic (undoped and phosphorus-doped) structure, prepared by low-pressure chemical vapor deposition, has been carried out using atomic force microscopy and transmission electron microscopy. The formation...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Functional Materials
Дата:2006
Автори: Nakhodkin, N.G., Kulish, N.P., Lytvyn, P.M., Rodionova, T.V.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: НТК «Інститут монокристалів» НАН України 2006
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/144374
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures / N.G. Nakhodkin, N.P. Kulish, P.M. Lytvyn, T.V. Rodionova // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 305-309. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-144374
record_format dspace
spelling Nakhodkin, N.G.
Kulish, N.P.
Lytvyn, P.M.
Rodionova, T.V.
2018-12-20T20:15:13Z
2018-12-20T20:15:13Z
2006
Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures / N.G. Nakhodkin, N.P. Kulish, P.M. Lytvyn, T.V. Rodionova // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 305-309. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.
1027-5495
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/144374
Comparative analysis of special grain boundary joints in polysilicon films with equiaxial and dendritic (undoped and phosphorus-doped) structure, prepared by low-pressure chemical vapor deposition, has been carried out using atomic force microscopy and transmission electron microscopy. The formation mechanisms of special grain boundary joints have been analyzed for different film structures. The effect of phosphorus on formation of grain boundary joints has been analyzed.
Методами атомной силовой микроскопии и просвечивающей электронной микроскопии проведен сравнительный анализ специальных стыков границ зерен в поликристал-лических пленках кремния с равноосной и дендритной структурой (нелегированных и легированных фосфором), полученных методом химического осаждения из газовой фазы в реакторе пониженного давления. Рассмотрены механизмы формирования специальных стыков в пленках разных структурных модификаций. Проанализирована роль фосфора в формировании стыков границ зерен.
Методами атомної силової мікроскопії та просвічуючої електронної мікроскопії проведено порівняльний аналіз спеціальних стиків границь зерен та поверхневих неоднорідностей у полікристалічних плівках кремнію з рівноосьовою та дендритною структурою (нелегованих і легованих фосфором), отриманих методом хімічного осадження з газової фази в реакторі зниженого тиску. Розглянуто механізми формування спеціальних стиків у плівках різних структурних модифікацій. Проаналізовано роль фосфору у формуванні стиків границь зерен.
This research was supported in part by Ukrainian Ministry for Education and Science, grant M/240-2004, and by T. Shevchenko Kyiv National University (№ 01BF052-02).
en
НТК «Інститут монокристалів» НАН України
Functional Materials
Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
Особливості спеціальних стиків границь зерен в полікремнієвих плівках з рівноосьовою та дендритною структурою
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
spellingShingle Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
Nakhodkin, N.G.
Kulish, N.P.
Lytvyn, P.M.
Rodionova, T.V.
title_short Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
title_full Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
title_fullStr Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
title_full_unstemmed Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
title_sort features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures
author Nakhodkin, N.G.
Kulish, N.P.
Lytvyn, P.M.
Rodionova, T.V.
author_facet Nakhodkin, N.G.
Kulish, N.P.
Lytvyn, P.M.
Rodionova, T.V.
publishDate 2006
language English
container_title Functional Materials
publisher НТК «Інститут монокристалів» НАН України
format Article
title_alt Особливості спеціальних стиків границь зерен в полікремнієвих плівках з рівноосьовою та дендритною структурою
description Comparative analysis of special grain boundary joints in polysilicon films with equiaxial and dendritic (undoped and phosphorus-doped) structure, prepared by low-pressure chemical vapor deposition, has been carried out using atomic force microscopy and transmission electron microscopy. The formation mechanisms of special grain boundary joints have been analyzed for different film structures. The effect of phosphorus on formation of grain boundary joints has been analyzed. Методами атомной силовой микроскопии и просвечивающей электронной микроскопии проведен сравнительный анализ специальных стыков границ зерен в поликристал-лических пленках кремния с равноосной и дендритной структурой (нелегированных и легированных фосфором), полученных методом химического осаждения из газовой фазы в реакторе пониженного давления. Рассмотрены механизмы формирования специальных стыков в пленках разных структурных модификаций. Проанализирована роль фосфора в формировании стыков границ зерен. Методами атомної силової мікроскопії та просвічуючої електронної мікроскопії проведено порівняльний аналіз спеціальних стиків границь зерен та поверхневих неоднорідностей у полікристалічних плівках кремнію з рівноосьовою та дендритною структурою (нелегованих і легованих фосфором), отриманих методом хімічного осадження з газової фази в реакторі зниженого тиску. Розглянуто механізми формування спеціальних стиків у плівках різних структурних модифікацій. Проаналізовано роль фосфору у формуванні стиків границь зерен.
issn 1027-5495
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/144374
citation_txt Features of special joints of grain boundaries in polysilicon films of equiaxial and dendritic structures / N.G. Nakhodkin, N.P. Kulish, P.M. Lytvyn, T.V. Rodionova // Functional Materials. — 2006. — Т. 13, № 2. — С. 305-309. — Бібліогр.: 11 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT nakhodkinng featuresofspecialjointsofgrainboundariesinpolysiliconfilmsofequiaxialanddendriticstructures
AT kulishnp featuresofspecialjointsofgrainboundariesinpolysiliconfilmsofequiaxialanddendriticstructures
AT lytvynpm featuresofspecialjointsofgrainboundariesinpolysiliconfilmsofequiaxialanddendriticstructures
AT rodionovatv featuresofspecialjointsofgrainboundariesinpolysiliconfilmsofequiaxialanddendriticstructures
AT nakhodkinng osoblivostíspecíalʹnihstikívgranicʹzerenvpolíkremníêvihplívkahzrívnoosʹovoûtadendritnoûstrukturoû
AT kulishnp osoblivostíspecíalʹnihstikívgranicʹzerenvpolíkremníêvihplívkahzrívnoosʹovoûtadendritnoûstrukturoû
AT lytvynpm osoblivostíspecíalʹnihstikívgranicʹzerenvpolíkremníêvihplívkahzrívnoosʹovoûtadendritnoûstrukturoû
AT rodionovatv osoblivostíspecíalʹnihstikívgranicʹzerenvpolíkremníêvihplívkahzrívnoosʹovoûtadendritnoûstrukturoû
first_indexed 2025-12-07T17:59:12Z
last_indexed 2025-12-07T17:59:12Z
_version_ 1850873324207341568