Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение
Показаны прикладные возможности использования модифицированного топографического метода Берга–Баррета в косоасимметричной схеме дифракции рентгеновских лучей на отражение при исследовании морфологии и структурных изменений вблизи поверхности кристаллов. Контролируемое изменение экстинкционной глубин...
Saved in:
| Published in: | Металлофизика и новейшие технологии |
|---|---|
| Date: | 2018 |
| Main Authors: | , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2018
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/146072 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение / И.М. Фодчук, Р.А. Заплитный, Ю.Т. Роман, В.Б. Молодкин, Т.П. Владимирова, З. Свянтек // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 5. — С. 561-583. — Бібліогр.: 50 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862720378307084288 |
|---|---|
| author | Фодчук, И.М. Заплитный, Р.А. Роман, Ю.Т. Молодкин, В.Б. Владимирова, Т.П. Свянтек, З. |
| author_facet | Фодчук, И.М. Заплитный, Р.А. Роман, Ю.Т. Молодкин, В.Б. Владимирова, Т.П. Свянтек, З. |
| citation_txt | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение / И.М. Фодчук, Р.А. Заплитный, Ю.Т. Роман, В.Б. Молодкин, Т.П. Владимирова, З. Свянтек // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 5. — С. 561-583. — Бібліогр.: 50 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Металлофизика и новейшие технологии |
| description | Показаны прикладные возможности использования модифицированного топографического метода Берга–Баррета в косоасимметричной схеме дифракции рентгеновских лучей на отражение при исследовании морфологии и структурных изменений вблизи поверхности кристаллов. Контролируемое изменение экстинкционной глубины проникновения рентгеновских лучей открывает новые возможности исследования структурных изменений в полупроводниковых материалах после различных внешних воздействий.
Показано прикладні можливості використання модифікованої топографічної методи Берґа–Баррета в косоасиметричній схемі дифракції Рентґенових променів на відбивання при дослідженні морфології та структурних змін поблизу поверхні кристалів. Контрольована зміна екстинкційної глибини проникнення Рентґенових променів відкриває нові можливості дослідження структурних змін у напівпровідникових матеріялах після різних зовнішніх впливів.
The applied capabilities of use of modified Berg–Barrett topographic method in the skew-asymmetric x-ray Bragg diffraction setup for the study of morphology and structural changes near crystal surface are shown. A controlled change in the extinction depth of x-ray penetration opens up new possibilities for investigation of structural changes in semiconductor materials after various external influences.
|
| first_indexed | 2025-12-07T18:25:04Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-146072 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 1024-1809 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T18:25:04Z |
| publishDate | 2018 |
| publisher | Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Фодчук, И.М. Заплитный, Р.А. Роман, Ю.Т. Молодкин, В.Б. Владимирова, Т.П. Свянтек, З. 2019-02-06T19:00:53Z 2019-02-06T19:00:53Z 2018 Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение / И.М. Фодчук, Р.А. Заплитный, Ю.Т. Роман, В.Б. Молодкин, Т.П. Владимирова, З. Свянтек // Металлофизика и новейшие технологии. — 2018. — Т. 40, № 5. — С. 561-583. — Бібліогр.: 50 назв. — рос. 1024-1809 PACS: 07.85.-m, 41.50.+h, 61.05.C-, 61.72.Ff, 68.55.J-, 68.55.Ln, 81.05.Dz DOI: https://doi.org/10.15407/mfint.40.05.0561 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/146072 Показаны прикладные возможности использования модифицированного топографического метода Берга–Баррета в косоасимметричной схеме дифракции рентгеновских лучей на отражение при исследовании морфологии и структурных изменений вблизи поверхности кристаллов. Контролируемое изменение экстинкционной глубины проникновения рентгеновских лучей открывает новые возможности исследования структурных изменений в полупроводниковых материалах после различных внешних воздействий. Показано прикладні можливості використання модифікованої топографічної методи Берґа–Баррета в косоасиметричній схемі дифракції Рентґенових променів на відбивання при дослідженні морфології та структурних змін поблизу поверхні кристалів. Контрольована зміна екстинкційної глибини проникнення Рентґенових променів відкриває нові можливості дослідження структурних змін у напівпровідникових матеріялах після різних зовнішніх впливів. The applied capabilities of use of modified Berg–Barrett topographic method in the skew-asymmetric x-ray Bragg diffraction setup for the study of morphology and structural changes near crystal surface are shown. A controlled change in the extinction depth of x-ray penetration opens up new possibilities for investigation of structural changes in semiconductor materials after various external influences. ru Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України Металлофизика и новейшие технологии Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение Прикладні можливості рентґенівської топографії кристалів у косоасиметричній схемі дифракції на відбивання Applied Capabilities of X-Ray Topography of Crystals in the Skew-Asymmetric Bragg Diffraction Article published earlier |
| spellingShingle | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение Фодчук, И.М. Заплитный, Р.А. Роман, Ю.Т. Молодкин, В.Б. Владимирова, Т.П. Свянтек, З. Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом |
| title | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение |
| title_alt | Прикладні можливості рентґенівської топографії кристалів у косоасиметричній схемі дифракції на відбивання Applied Capabilities of X-Ray Topography of Crystals in the Skew-Asymmetric Bragg Diffraction |
| title_full | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение |
| title_fullStr | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение |
| title_full_unstemmed | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение |
| title_short | Прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение |
| title_sort | прикладные возможности рентгеновской топографии кристаллов в косоасимметричной схеме дифракции на отражение |
| topic | Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом |
| topic_facet | Взаимодействия излучения и частиц с конденсированным веществом |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/146072 |
| work_keys_str_mv | AT fodčukim prikladnyevozmožnostirentgenovskoitopografiikristallovvkosoasimmetričnoishemedifrakciinaotraženie AT zaplitnyira prikladnyevozmožnostirentgenovskoitopografiikristallovvkosoasimmetričnoishemedifrakciinaotraženie AT romanût prikladnyevozmožnostirentgenovskoitopografiikristallovvkosoasimmetričnoishemedifrakciinaotraženie AT molodkinvb prikladnyevozmožnostirentgenovskoitopografiikristallovvkosoasimmetričnoishemedifrakciinaotraženie AT vladimirovatp prikladnyevozmožnostirentgenovskoitopografiikristallovvkosoasimmetričnoishemedifrakciinaotraženie AT svântekz prikladnyevozmožnostirentgenovskoitopografiikristallovvkosoasimmetričnoishemedifrakciinaotraženie AT fodčukim prikladnímožlivostírentgenívsʹkoítopografííkristalívukosoasimetričníishemídifrakcíínavídbivannâ AT zaplitnyira prikladnímožlivostírentgenívsʹkoítopografííkristalívukosoasimetričníishemídifrakcíínavídbivannâ AT romanût prikladnímožlivostírentgenívsʹkoítopografííkristalívukosoasimetričníishemídifrakcíínavídbivannâ AT molodkinvb prikladnímožlivostírentgenívsʹkoítopografííkristalívukosoasimetričníishemídifrakcíínavídbivannâ AT vladimirovatp prikladnímožlivostírentgenívsʹkoítopografííkristalívukosoasimetričníishemídifrakcíínavídbivannâ AT svântekz prikladnímožlivostírentgenívsʹkoítopografííkristalívukosoasimetričníishemídifrakcíínavídbivannâ AT fodčukim appliedcapabilitiesofxraytopographyofcrystalsintheskewasymmetricbraggdiffraction AT zaplitnyira appliedcapabilitiesofxraytopographyofcrystalsintheskewasymmetricbraggdiffraction AT romanût appliedcapabilitiesofxraytopographyofcrystalsintheskewasymmetricbraggdiffraction AT molodkinvb appliedcapabilitiesofxraytopographyofcrystalsintheskewasymmetricbraggdiffraction AT vladimirovatp appliedcapabilitiesofxraytopographyofcrystalsintheskewasymmetricbraggdiffraction AT svântekz appliedcapabilitiesofxraytopographyofcrystalsintheskewasymmetricbraggdiffraction |