Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему

Показано, що при нанесенні шару SiO₂ завтовшки ~40 Å потенціал взаємодії V₀(х,L) в багатошаровій системі метал–кремнезем–вакуум є аналогічним потенціалу взаємодії заряду з поверхнею дисперсного кремнезему. The deposition of a SiO₂ layer with the thickness of ~40 Å has been shown to make the interac...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Поверхность
Date:2004
Main Authors: Горайчук, Т.В., Ільченко, Л.Г., Лобанов, В.В.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України 2004
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/146280
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему / Т.В. Горайчук, Л.Г. Ільченко, В.В. Лобанов // Поверхность. — 2004. — Вип. 10. — С. 4-7. — Бібліогр.: 8 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-146280
record_format dspace
spelling Горайчук, Т.В.
Ільченко, Л.Г.
Лобанов, В.В.
2019-02-08T17:48:26Z
2019-02-08T17:48:26Z
2004
Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему / Т.В. Горайчук, Л.Г. Ільченко, В.В. Лобанов // Поверхность. — 2004. — Вип. 10. — С. 4-7. — Бібліогр.: 8 назв. — укр.
2617-5975
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/146280
539.2.01
Показано, що при нанесенні шару SiO₂ завтовшки ~40 Å потенціал взаємодії V₀(х,L) в багатошаровій системі метал–кремнезем–вакуум є аналогічним потенціалу взаємодії заряду з поверхнею дисперсного кремнезему.
The deposition of a SiO₂ layer with the thickness of ~40 Å has been shown to make the interaction potential V₀(х,L) in the multilayer structure metal-silica-vacuum similar to that of a charge with disperse silica surface.
uk
Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
Поверхность
Моделювання процесів на поверхні
Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
Тhеоretical determination of the potential of ion-surface interaction for multiplayer adsorbents based on silica
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
spellingShingle Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
Горайчук, Т.В.
Ільченко, Л.Г.
Лобанов, В.В.
Моделювання процесів на поверхні
title_short Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
title_full Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
title_fullStr Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
title_full_unstemmed Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
title_sort теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему
author Горайчук, Т.В.
Ільченко, Л.Г.
Лобанов, В.В.
author_facet Горайчук, Т.В.
Ільченко, Л.Г.
Лобанов, В.В.
topic Моделювання процесів на поверхні
topic_facet Моделювання процесів на поверхні
publishDate 2004
language Ukrainian
container_title Поверхность
publisher Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
format Article
title_alt Тhеоretical determination of the potential of ion-surface interaction for multiplayer adsorbents based on silica
description Показано, що при нанесенні шару SiO₂ завтовшки ~40 Å потенціал взаємодії V₀(х,L) в багатошаровій системі метал–кремнезем–вакуум є аналогічним потенціалу взаємодії заряду з поверхнею дисперсного кремнезему. The deposition of a SiO₂ layer with the thickness of ~40 Å has been shown to make the interaction potential V₀(х,L) in the multilayer structure metal-silica-vacuum similar to that of a charge with disperse silica surface.
issn 2617-5975
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/146280
citation_txt Теоретичне визначення потенціалу іон поверхневої взаємодії для багатошарових адсорбентів на основі кремнезему / Т.В. Горайчук, Л.Г. Ільченко, В.В. Лобанов // Поверхность. — 2004. — Вип. 10. — С. 4-7. — Бібліогр.: 8 назв. — укр.
work_keys_str_mv AT goraičuktv teoretičneviznačennâpotencíaluíonpoverhnevoívzaêmodíídlâbagatošarovihadsorbentívnaosnovíkremnezemu
AT ílʹčenkolg teoretičneviznačennâpotencíaluíonpoverhnevoívzaêmodíídlâbagatošarovihadsorbentívnaosnovíkremnezemu
AT lobanovvv teoretičneviznačennâpotencíaluíonpoverhnevoívzaêmodíídlâbagatošarovihadsorbentívnaosnovíkremnezemu
AT goraičuktv theoreticaldeterminationofthepotentialofionsurfaceinteractionformultiplayeradsorbentsbasedonsilica
AT ílʹčenkolg theoreticaldeterminationofthepotentialofionsurfaceinteractionformultiplayeradsorbentsbasedonsilica
AT lobanovvv theoreticaldeterminationofthepotentialofionsurfaceinteractionformultiplayeradsorbentsbasedonsilica
first_indexed 2025-11-27T03:15:35Z
last_indexed 2025-11-27T03:15:35Z
_version_ 1850794176616071168
fulltext УДК 539.2.01 ТЕОРЕТИЧНЕ ВИЗНАЧЕННЯ ПОТЕНЦІАЛУ ІОН-ПОВЕРХНЕВОЇ ВЗАЄМОДІЇ ДЛЯ БАГАТОШАРОВИХ АДСОРБЕНТІВ НА ОСНОВІ КРЕМНЕЗЕМУ Т.В. Горайчук, Л.Г. Ільченко, В.В. Лобанов Інститут хімії поверхні Національної академії наук України вул. Ген. Наумова 17, 03680 Київ-164 Показано, що при нанесенні шару SiO2 завтовшки ~40 Å потенціал взаємодії V0(х,L) в багатошаровій системі метал–кремнезем–вакуум є аналогічним потенціалу взаємодії заряду з поверхнею дисперсного кремнезему. The deposition of a SiO2 layer with the thickness of ~40 Å has been shown to make the interaction potential V0(х,L) in the multilayer structure metal-silica-vacuum similar to that of a charge with disperse silica surface. Вступ Лікарські препарати на основі високодисперсного кремнезему мають широке використання в медичній практиці [1] завдяки його унікальним адсорбційним властивостям [2]. Подальше використання цих властивостей поверхні аморфних частинок кремнезему пов’язане зі створенням нових багатокомпонентних матеріалів, які б поєднували в собі унікальні властивості препаратів на основі дисперсного кремнезему [1] та в той же час акумулювали в собі нові властивості, наприклад, були б магнітокерованими препаратами точкової дії. Використання таких медичних препаратів нового покоління базується на створенні багатокомпонентних (в тому числі багатошарових) структур. В роботі [3] встановлено, що нанесенням металевих покриттів на діелектричну підкладинку можна значно збільшити потенціал електростатичної взаємодії заряду (електрона, іона) з поверхнею. Навпаки, на прикладі дисперсного кремнезему показано [4], що можливе цілеспрямоване регулювання потенціалу іон-поверхневої взаємодії вихідного діелектричного матеріалу, завдяки вибору матеріалу іншого діелектричного покриття та зміні його товщини L. Діелектричні плівки сприяють хімічній стабілізації металевої поверхні в зовнішньому середовищі, зменшуючи її поверхневу активність в залежності від товщини L нанесеного покриття. В даній роботі розраховано потенціал іон-поверхневої взаємодії V0(x,L) зарядженої частинки, що перебуває в повітрі (вакуумі) на відстані х від поверхні, з металевим зразком при збільшенні товщини L моношарового діелектричного покриття з параметрами аморфного кремнезему. Теоретична частина Для розрахунку потенціалу іон-поверхневої взаємодії V0(x,L) зарядженої частинки Z*e, яка перебуває в повітрі (вакуумі) на відстані 0³x від поверхні, з металевим зразком, наякий нанесено надтонкий шар діелектрика, будемо виходити з моделі тришарової системи [5, 6], в якій область x<-L відповідає металу з діелектричною проникністю e1( k r ), в області -L£ x£ 0 знаходиться шар діелектрика з діелектричною проникністю e2( k r ). Схему розглянутої системи наведено на рис. 1. Рис. 1. Тришарова система метал-діелектрик-повітря. Електростатична енергія точкового заряду Z*e, що знаходиться у зовнішньому середовищі (вакуумі e3=1) (x³0) поблизу металу, на поверхню якого нанесено шар діелектрика завтовшки L, визначається виразом [5, 6]: ( ) ò ¥ * ú û ù ê ë é +-= 0 3 2 0 2 1),;(),( q xxqDqdqeZLxV (1) де { }q q qy z= , - двовимірна компонента хвильового вектора; k^ - хвильовий вектор, перпендикулярний до меж розподілу; Dj 0(q;x,x) – функція Гріна повздовжнього кулонівського поля в кожному з трьох середовищ, яка згідно [5, 6] дорівнює ( ) ( )[ ] ( ) ( )[ ]xaaLaLaLa qB xaxxqD AS 20 2 1)(2 )( )(),,( 331 2 3 3 +--+-+-= , (2) [ ][ ] [ ][ ])0()(sa )()( )0()(a )()()( 31 3A1 aLLaLa aLLaLsaqB A +--+-+ ++--+-= (3) ( )ò ¥ ¥ + = - ^ ^ ^ +^ ),(1 221 e 1)( )(k i qkqk dk xa Lx ep (4) ( )ò ¥ ¥ + = - ^ ^ ^ ^ ),(3 22 k i 3 e 1)( qkqk dkxa x ep (5) å ^ ^ ^^ + e+ = k Lxik AS qkqk e L xqa ),()( 2);( 2 22 )( , ; (6) ( ) ... 2, ,1 0,=n ;12k ;2 ±±+== ^^ LL nnk As pp Як показано в [4-6], для одержання неперервного розподілу потенціалу зображення )(0 xV j в неоднорідній (багатошаровій) системі необхідно вибрати діелектричні функції металу )(1 k r e та діелектрика )(2 k r e так, щоб виконувалася умова lim ( ) k j k ®¥ =e r 1, яка забезпечує неперервність (скінченність) потенціалу на межах поділу ( Lx -= і 0=x ). Для врахування просторової дисперсії в діелектричній функції металу )(1 k r e скористаємось широко застосовуваним наближенням Томаса-Фермі, згідно якого 2 2 1 1 1)( k k ke += r , { }qkk ,^= , (7) де 1 1 -k - радіус екранування, 1 1 2 2 1 6 FE nepk = , 1n - концентрація електронів, 1 32 1 22 1 2 )3( m nEF ph= та m1 ефективна маса вільних електронів металу. Для врахування просторової дисперсії в діелектричній функції )(2 k r e покриття скористаємось інтерполяційною моделлю Інксона, згідно якій )(2 k r e має такий вигляд [7]: ( )11 11)( 22 2 2 2 2 -÷ ø ö ç è æ+ - += e l e e k k r r , (8) де 2e - діелектрична стала кристалічної гратки (при 0®k r ), 1 2 -l -ефективний радіус екранування зв’язаними (валентними) електронами іонних остовів кристалічної гратки діелектрика, які по порядку величини близькі до розміру атома (іона). Результати та їхнє обговорення Зонна енергетична діаграма для системи метал - плівка кремнезему - повітря з розрахо- ваним згідно запропонованої моделі потенціалом ),(0 LxV j ( 3,2,1=j ) (суцільна крива) відповідно роботам [5, 6] та рівнянням (1)-(8) наведена на рис. 2. Для розрахунку використано такі параметри: для металу 322 1 106 -×= смn , 8407,01 =m , робота виходу eVмет 6.4=f ; для кремнезему 22 =e і см81 2 1065,4 -- ×=l . Підставляючи (8) в (6) і (7) в (4), а потім в (3), (2) і (1), розраховано потенціал електростатичної взаємодії V0(х,L) точкового заряду, що знаходиться в повітрі, з металевою частинкою з нанесеним кремнеземом (рис. 3). Рис. 2. Зонна енергетична діаграма для системи метал - плівка кремнезему - повітря. Рис. 3. Потенціал електростатичної взаємодії V0(х,L) заряду, що знаходиться в повітрі, з металевою частинкою, на поверхню якої нанесена плівка кремнезему (суцільні криві) завтовшки 5, 20 та 40 Å (відповідно 1-3). Точкова крива - потенціал взаємодії з поверхнею кремнезему, а штрихова - металу. Рис. 4. Залежність електростатичного потенціалу на поверхні плівки кремнезему на металі від її товщини (суцільна крива). Точкова крива - потенціал взаємодії з поверхнею кремнезему, а штрихова - металу. Проведені розрахунки показали (рис. 4), що для одержання потенціалу взаємодії V0(х,L) в багатошаровій системі метал–плівка кремнезему–повітря, який би відповідав потенціалу взаємодії заряду з поверхнею дисперсного кремнезему, необхідно нанести шар діоксиду кремнію завтовшки ~40 Å. Коли товщина покриття менша (наприклад, складає декілька моношарів SiO2), металевою підкладинкою нехтувати неможна. Оптимальними розмірами частинок дисперсного кремнезему як лікувального препарату є ~100 Å [1]. Наші розрахунки показали, що товщина плівки кремнезему має складати щонайменше 40 Å, тобто для одержання максимального лікувального ефекту розмір диспергованих частинок металу повинен бути меншим за 60 Å. Відомо, що при таких розмірах металевих частинок стають істотними розмірні ефекти, пов’язані зі зміною енергетичного спектру електронів металу [7, 8]. Розмірне квантування може спричинити немонотонну зміну іон-поверхневого потенціалу в залежності від розміру металевої частинки, на який нанесено шар кремнезему. Література 1. Медицинская химия и клиническое применение диоксида кремния / Под ред. А.А. Чуйко. - Киев: Наук. думка, 2003. – 415 с. 2. Химия поверхности кремнезема / Под ред. А.А Чуйко. – В 2-х т. – Киев: УкрИНТЭИ, 2001. – 1236 с. 3. Ильченко Л.Г., Гречко Л.Г. Потенциал сил изображения у поверхности диэлектрика с металлическим покрытием // Поверхность. Физика, химия, механика. - 1991, № 2, С.86-89. 4. Горайчук Т.В., Ільченко Л.Г., Савон О.О. Про вплив надтонких діелектричних покриттів на електростатичну активність неселективних діелектричних поверхонь // Укр. физ. журн. - 2001. - Т. 46, № 5. - С.572-577. 5. Ильченко Л.Г., Пашицкий Э.А., Романов Ю.А. Электростатический потенциал зарядов в слоистых системах с пространственной дисперсией // Физика твердого тела. - 1980. - Т. 22, № 9. - С.2700-2710. 6. Il'chenko L.G., Pashitskii E.A. and Romanov Yu.A. Charge interaction in layered systems with spatial dispersion // Surf. Sci. - 1982.- V. 121. - P.375-395. 7. Il’chenko L.G., Goraychuk T.V. Image potential between closely separated quantum-size film and a metal // Ultramicroscopy. - 2003. - V. 95. - P.67-73. 8. Il’chenko L.G., Litovchenko V.G., Kryuchenko Yu.V. Electron field emission (FE) from quantum size systems // Appl. Surf. Sci. - 1995. – V. 87/88. - P.53-60. Інститут хімії поверхні Національної академії наук України Інститут хімії поверхні Національної академії наук України Інститут хімії поверхні Національної академії наук України вул. Ген. Наумова 17, 03680 Київ-164