Влияние концентрации вакансий на релаксорные свойства сложных ниобатов щелочных и щелочно-земельных элементов

• Дата: 2008
• Автори: Мищук, Д.О., Вьюнов, О.И.
• Формат: Стаття
• Мова: Russian
• Опубліковано: Інститут загальної та неорганічної хімії ім. В.І. Вернадського НАН України 2008
• Теми: Неорганическая и физическая химия
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/14731
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Влияние концентрации вакансий на релаксорные свойства сложных ниобатов щелочных и щелочно-земельных элементов / Д.О. Мищук, О.И. Вьюнов // Украинский химический журнал. — 2008. — Т. 74, № 3. — С. 23-27. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.

Изучена последовательность фазовых превращений при образовании твердых растворов со структурой тетрагональной вольфрамовой бронзы (ТВБ). Определены кристаллографические параметры полученных твердых растворов. Электрофизические свойства поликристаллических материалов были исследованы в широком частотном и температурном диапазоне. Показано, что изменяя концентрацию вакансий в подрешетке А структуры ТВБ, можно влиять на релаксацию диэлектрических свойств. Вивчено послідовність фазових перетво- рень при утворенні твердих розчинів зі структурою тетрагональної вольфрамової бронзи (ТВБ). Визначено кристалографічні параметри отриманих твердих розчинів. Електрофізичні властивості полікристалічних матеріалів досліджено в широкому частотному і температурному діапазоні. Показано, що змінюючи концентрацію вакансій в підгратці А структури ТВБ, можна впливати на релаксацію діелектричних властивостей. The phase transformations occurring during the formation of solid solutions with tetragonal tungsten bronze structure (TTB) have been studied. The crystal lattice parameters of the solid solutions synthesized have been determined. Electrophysical properties of polycrystalline samples have been studied in wide frequency and temperature ranges. The change in A-site vacancy concentration in TTB structures has been shown to affect the relaxation of dielectric properties.