Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings

To obtain micrometric gratings with a high aspect ratio by lithographic technique, it is proposed to use a proton beam focused in a line and electromagnetic scanning in the transverse direction to irradiate the resistive material. Numerical modeling is carried out to optimize the parameters of the...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Вопросы атомной науки и техники
Date:2018
Main Authors: Ponomarev, A.G., Kolinko, S.V., Rebrov, V.A., Kolomiets, V.N., Kravchenko, S.N.
Format: Article
Language:English
Published: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2018
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/147662
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings / A.G. Ponomarev, S.V. Kolinko, V.A. Rebrov, V.N. Kolomiets, S.N. Kravchenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 285-288. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-147662
record_format dspace
spelling Ponomarev, A.G.
Kolinko, S.V.
Rebrov, V.A.
Kolomiets, V.N.
Kravchenko, S.N.
2019-02-15T17:22:43Z
2019-02-15T17:22:43Z
2018
Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings / A.G. Ponomarev, S.V. Kolinko, V.A. Rebrov, V.N. Kolomiets, S.N. Kravchenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 285-288. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.
1562-6016
PACS: 42.82.Cr; 85.40.Hp; 81.16.Nd
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/147662
To obtain micrometric gratings with a high aspect ratio by lithographic technique, it is proposed to use a proton beam focused in a line and electromagnetic scanning in the transverse direction to irradiate the resistive material. Numerical modeling is carried out to optimize the parameters of the probe forming system for this task. The calculations were confirmed during the experimental implementation of the proposed technique. A grating from the 23.4×2060 μm lines was made.
Для виробництва мікродифракційних граток з великим аспектним співвідношенням методом літографії запропоновано застосувати для опромінення фоторезисту протонний пучок, сфокусований в лінію, та електромагнітне сканування в поперечному напрямку. Проведене чисельне моделювання з оптимізації параметрів ЗФС для даної задачі. Розрахунки підтверджено при експериментальній реалізації запропонованого методу, виготовлено гратку зi смугами розмірами 23,4×2060 мкм.
Для получения микродифракционных решеток с высоким аспектным соотношением методом литографии предложено использовать для облучения фоторезиста протонный пучок, сфокусированный в линию, и электромагнитное сканирование в поперечном направлении. Проведено численное моделирование по оптимизации параметров ЗФС для данной задачи. Расчеты подтверждены при экспериментальной реализации предложенного метода, получена решетка из полос размерами 23,4×2060 мкм.
en
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
Вопросы атомной науки и техники
Приложения и технологии
Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
Використання протонно-променевої літографії для фабрикації мікродифракційних граток
Применение протонно-лучевой литографии для фабрикации микродифракционных решеток
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
spellingShingle Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
Ponomarev, A.G.
Kolinko, S.V.
Rebrov, V.A.
Kolomiets, V.N.
Kravchenko, S.N.
Приложения и технологии
title_short Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_full Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_fullStr Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_full_unstemmed Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
title_sort using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings
author Ponomarev, A.G.
Kolinko, S.V.
Rebrov, V.A.
Kolomiets, V.N.
Kravchenko, S.N.
author_facet Ponomarev, A.G.
Kolinko, S.V.
Rebrov, V.A.
Kolomiets, V.N.
Kravchenko, S.N.
topic Приложения и технологии
topic_facet Приложения и технологии
publishDate 2018
language English
container_title Вопросы атомной науки и техники
publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
format Article
title_alt Використання протонно-променевої літографії для фабрикації мікродифракційних граток
Применение протонно-лучевой литографии для фабрикации микродифракционных решеток
description To obtain micrometric gratings with a high aspect ratio by lithographic technique, it is proposed to use a proton beam focused in a line and electromagnetic scanning in the transverse direction to irradiate the resistive material. Numerical modeling is carried out to optimize the parameters of the probe forming system for this task. The calculations were confirmed during the experimental implementation of the proposed technique. A grating from the 23.4×2060 μm lines was made. Для виробництва мікродифракційних граток з великим аспектним співвідношенням методом літографії запропоновано застосувати для опромінення фоторезисту протонний пучок, сфокусований в лінію, та електромагнітне сканування в поперечному напрямку. Проведене чисельне моделювання з оптимізації параметрів ЗФС для даної задачі. Розрахунки підтверджено при експериментальній реалізації запропонованого методу, виготовлено гратку зi смугами розмірами 23,4×2060 мкм. Для получения микродифракционных решеток с высоким аспектным соотношением методом литографии предложено использовать для облучения фоторезиста протонный пучок, сфокусированный в линию, и электромагнитное сканирование в поперечном направлении. Проведено численное моделирование по оптимизации параметров ЗФС для данной задачи. Расчеты подтверждены при экспериментальной реализации предложенного метода, получена решетка из полос размерами 23,4×2060 мкм.
issn 1562-6016
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/147662
fulltext
citation_txt Using of proton beam writing techniques for fabrication of micro difraction gratings / A.G. Ponomarev, S.V. Kolinko, V.A. Rebrov, V.N. Kolomiets, S.N. Kravchenko // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 285-288. — Бібліогр.: 13 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT ponomarevag usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT kolinkosv usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT rebrovva usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT kolomietsvn usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT kravchenkosn usingofprotonbeamwritingtechniquesforfabricationofmicrodifractiongratings
AT ponomarevag vikoristannâprotonnopromenevoílítografíídlâfabrikacíímíkrodifrakcíinihgratok
AT kolinkosv vikoristannâprotonnopromenevoílítografíídlâfabrikacíímíkrodifrakcíinihgratok
AT rebrovva vikoristannâprotonnopromenevoílítografíídlâfabrikacíímíkrodifrakcíinihgratok
AT kolomietsvn vikoristannâprotonnopromenevoílítografíídlâfabrikacíímíkrodifrakcíinihgratok
AT kravchenkosn vikoristannâprotonnopromenevoílítografíídlâfabrikacíímíkrodifrakcíinihgratok
AT ponomarevag primenenieprotonnolučevoilitografiidlâfabrikaciimikrodifrakcionnyhrešetok
AT kolinkosv primenenieprotonnolučevoilitografiidlâfabrikaciimikrodifrakcionnyhrešetok
AT rebrovva primenenieprotonnolučevoilitografiidlâfabrikaciimikrodifrakcionnyhrešetok
AT kolomietsvn primenenieprotonnolučevoilitografiidlâfabrikaciimikrodifrakcionnyhrešetok
AT kravchenkosn primenenieprotonnolučevoilitografiidlâfabrikaciimikrodifrakcionnyhrešetok
first_indexed 2025-11-25T20:44:30Z
last_indexed 2025-11-25T20:44:30Z
_version_ 1850536782734557184