α-particle induced forward-backward electron emission from titanium nitride

The electronic yields of forward and backward secondary ion-induced electron emission from titanium nitride bombarded by α-particles from a radioisotope source were experimentally measured. It was shown that the ratio of forward and backward electronic yields was approximately 1.79, which agrees w...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в: :Вопросы атомной науки и техники
Дата:2018
Автори: Zhurenko, V.P., Kononenko, S.I., Kalantaryan, O.V., Mysiura, I.N., Avotin, S.S., Rokhmanov, N.Ja.
Формат: Стаття
Мова:English
Опубліковано: Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України 2018
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/147668
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:α-particle induced forward-backward electron emission from titanium nitride / V.P. Zhurenko, S.I. Kononenko, O.V. Kalantaryan, I.N. Mysiura, S.S. Avotin, N.Ja. Rokhmanov // Вопросы атомной науки и техники. — 2018. — № 4. — С. 293-296. — Бібліогр.: 25 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The electronic yields of forward and backward secondary ion-induced electron emission from titanium nitride bombarded by α-particles from a radioisotope source were experimentally measured. It was shown that the ratio of forward and backward electronic yields was approximately 1.79, which agrees well with the results obtained earlier for other materials and fast light ions. It was found that this ratio increased slightly with increasing specific ionization loss of the ion Експериментально виміряно електронні виходи вторинної іонно-електронної емісії з нітриду титану на простріл і на відбиття під час бомбардування α-частинками від радіоізотопного джерела. Показано, що відношення електронних виходів на простріл і на відбиття становить приблизно 1,79, що добре узгоджується з результатами, отриманими раніше для інших матеріалів і швидких легких іонів. Знайдено, що зазначене відношення помірно зростає зі збільшенням питомих іонізаційних втрат іона. Экспериментально измерены электронные выходы вторичной ионно-электронной эмиссии из нитрида титана на прострел и на отражение при бомбардировке α-частицами от радиоизотопного источника. Показано, что отношение электронных выходов на прострел и на отражение составляет примерно 1,79, что хорошо согласуется с результатами, полученными ранее для других материалов и быстрых легких ионов. Найдено, что указанное отношение слегка возрастает с увеличением удельных ионизационных потерь иона.
ISSN:1562-6016