Analysis of long-term depression in the Purkinje cell circuit (a model study)

• Опубліковано в: : Нейрофизиология
• Дата: 2014
• Автори: Zhang, X.C., Liu, Sh.Q., Ren, H., Zeng, Y.I., Zhan, G.X.
• Формат: Стаття
• Мова: Англійська
• Опубліковано: Інститут фізіології ім. О.О. Богомольця НАН України 2014
• Онлайн доступ: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148249
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Цитувати: Analysis of long-term depression in the Purkinje cell circuit (a model study) / X.C. Zhang, Sh.Q. Liu, H. Ren, Y.I. Zeng, G.X. Zhan // Нейрофизиология. — 2014. — Т. 46, № 1. — С. 28-36. — Бібліогр.: 27 назв. — англ.

In the cerebellum, long-term depression (LTD) plays a key function in sculpting neuronal
 circuits to store information, since motor learning and memory are thought to be associated
 with such long-term changes in synaptic efficacy. To better understand the principles of
 tra...