Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела
В статье описаны физические принципы фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии и спектроскопии Оже-электронов. Рассмотрено распределение по кинетической энергии электронов, образующихся в результате внешнего фотоэффекта, и электронов, покидающих атом при релаксации начального с...
Збережено в:
| Опубліковано в: : | Поверхность |
|---|---|
| Дата: | 2016 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Російська |
| Опубліковано: |
Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України
2016
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148506 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела / М.И. Теребинская, О.И. Ткачук, В.В. Лобанов // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 15-49. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| _version_ | 1862668127812190208 |
|---|---|
| author | Теребинская, М.И. Ткачук, О.И. Лобанов, В.В. |
| author_facet | Теребинская, М.И. Ткачук, О.И. Лобанов, В.В. |
| citation_txt | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела / М.И. Теребинская, О.И. Ткачук, В.В. Лобанов // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 15-49. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. |
| collection | DSpace DC |
| container_title | Поверхность |
| description | В статье описаны физические принципы фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии и спектроскопии Оже-электронов. Рассмотрено распределение по кинетической энергии электронов, образующихся в результате внешнего фотоэффекта, и электронов, покидающих атом при релаксации начального состояния его остовной оболочки. Обсуждаются явления, определяющие форму, тонкую структуру, а также интенсивность спектральных линий. Подробно анализируются возможности качественного и количественного анализа атомного состава молекулярных систем, «ложные линии», химические сдвиги линий остовных уровней атомов, находящихся в различном химическом окружении. Анализ положения таких линий позволяет установить химический состав поверхности твердого тела и приповерхностной области. Надлежащее внимание уделено квантовохимическим методам нахождения энергии уровней остовных состояний и плотности одноэлектронных уровней валентных состояний, а также подходам, развитым для сравнения экспериментально полученных спектров фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии и спектроскопии Оже-электронов с теоретически рассчитанными.
The paper describes the physical principles of X-ray photoelectron and ultraviolet spectroscopy and Auger electron spectroscopy. We consider the distribution of the kinetic energy of the electrons formed as a result of the external photoelectric effect, and electrons leaves the atom with the relaxation of the initial state of its core-shell. We discuss the phenomena that determine the shape, the fine structure and the intensity of the spectral lines. Analyzed in detail the possibility of qualitative and quantitative analysis of the atomic composition, "false line", the chemical shifts of the lines of the core levels of atoms in different chemical environments. Analysis of these lines allows the chemical composition of the solid surface and near-surface region. Proper attention is paid to quantum-chemical methods of finding the energy levels of core states and density of states of the valence-electron levels and approaches developed to compare the experimentally obtained spectra of X-ray photoelectron and ultraviolet spectroscopy and Auger electron spectroscopy and theoretical calculations.
У статті описані фізичні принципи фотоелектронної рентгенівської та ультрафіолетової спектроскопії і спектроскопії Оже-електронів. Розглянуто розподіл по кінетичної енергії електронів, що утворюються в результаті зовнішнього фотоефекту, і електронів, які залишають атом при релаксації початкового стану його остовної оболонки. Обговорюються явища, що визначають форму, тонку структуру, а також інтенсивність спектральних ліній. Детально аналізуються можливості якісного та кількісного аналізу атомного складу, «помилкові лінії», хімічні зсуви ліній остовних рівнів атомів, що знаходяться в різному хімічному оточенні. Аналіз положення таких ліній дозволяє встановити хімічний склад поверхні твердого тіла і приповерхневої області. Належна увага приділена квантовохімічним методам знаходження енергії рівнів остівних станів і густини одноелектронних рівнів валентних станів, а також підходам, розвиненим для порівняння експериментально отриманих спектрів фотоелектронної рентгенівської та ультрафіолетової спектроскопії і спектроскопії Оже-електронів з теоретично розрахованими.
|
| first_indexed | 2025-12-07T15:24:57Z |
| format | Article |
| fulltext | |
| id | nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-148506 |
| institution | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| issn | 2617-5975 |
| language | Russian |
| last_indexed | 2025-12-07T15:24:57Z |
| publishDate | 2016 |
| publisher | Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України |
| record_format | dspace |
| spelling | Теребинская, М.И. Ткачук, О.И. Лобанов, В.В. 2019-02-18T14:23:29Z 2019-02-18T14:23:29Z 2016 Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела / М.И. Теребинская, О.И. Ткачук, В.В. Лобанов // Поверхность. — 2016. — Вип. 8 (23). — С. 15-49. — Бібліогр.: 20 назв. — рос. 2617-5975 https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148506 544.18 В статье описаны физические принципы фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии и спектроскопии Оже-электронов. Рассмотрено распределение по кинетической энергии электронов, образующихся в результате внешнего фотоэффекта, и электронов, покидающих атом при релаксации начального состояния его остовной оболочки. Обсуждаются явления, определяющие форму, тонкую структуру, а также интенсивность спектральных линий. Подробно анализируются возможности качественного и количественного анализа атомного состава молекулярных систем, «ложные линии», химические сдвиги линий остовных уровней атомов, находящихся в различном химическом окружении. Анализ положения таких линий позволяет установить химический состав поверхности твердого тела и приповерхностной области. Надлежащее внимание уделено квантовохимическим методам нахождения энергии уровней остовных состояний и плотности одноэлектронных уровней валентных состояний, а также подходам, развитым для сравнения экспериментально полученных спектров фотоэлектронной рентгеновской и ультрафиолетовой спектроскопии и спектроскопии Оже-электронов с теоретически рассчитанными. The paper describes the physical principles of X-ray photoelectron and ultraviolet spectroscopy and Auger electron spectroscopy. We consider the distribution of the kinetic energy of the electrons formed as a result of the external photoelectric effect, and electrons leaves the atom with the relaxation of the initial state of its core-shell. We discuss the phenomena that determine the shape, the fine structure and the intensity of the spectral lines. Analyzed in detail the possibility of qualitative and quantitative analysis of the atomic composition, "false line", the chemical shifts of the lines of the core levels of atoms in different chemical environments. Analysis of these lines allows the chemical composition of the solid surface and near-surface region. Proper attention is paid to quantum-chemical methods of finding the energy levels of core states and density of states of the valence-electron levels and approaches developed to compare the experimentally obtained spectra of X-ray photoelectron and ultraviolet spectroscopy and Auger electron spectroscopy and theoretical calculations. У статті описані фізичні принципи фотоелектронної рентгенівської та ультрафіолетової спектроскопії і спектроскопії Оже-електронів. Розглянуто розподіл по кінетичної енергії електронів, що утворюються в результаті зовнішнього фотоефекту, і електронів, які залишають атом при релаксації початкового стану його остовної оболонки. Обговорюються явища, що визначають форму, тонку структуру, а також інтенсивність спектральних ліній. Детально аналізуються можливості якісного та кількісного аналізу атомного складу, «помилкові лінії», хімічні зсуви ліній остовних рівнів атомів, що знаходяться в різному хімічному оточенні. Аналіз положення таких ліній дозволяє встановити хімічний склад поверхні твердого тіла і приповерхневої області. Належна увага приділена квантовохімічним методам знаходження енергії рівнів остівних станів і густини одноелектронних рівнів валентних станів, а також підходам, розвиненим для порівняння експериментально отриманих спектрів фотоелектронної рентгенівської та ультрафіолетової спектроскопії і спектроскопії Оже-електронів з теоретично розрахованими. ru Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка НАН України Поверхность Теория химического строения и реакционной способности поверхности. Моделирование процессов на поверхности Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface Рентгенофотоелектронна і ОЖЕ-спектроскопія в дослідженнях поверхні твердого тіла Article published earlier |
| spellingShingle | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела Теребинская, М.И. Ткачук, О.И. Лобанов, В.В. Теория химического строения и реакционной способности поверхности. Моделирование процессов на поверхности |
| title | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела |
| title_alt | X-ray photoelectron spectroscopy and auger in research solid surface Рентгенофотоелектронна і ОЖЕ-спектроскопія в дослідженнях поверхні твердого тіла |
| title_full | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела |
| title_fullStr | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела |
| title_full_unstemmed | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела |
| title_short | Рентгенофотоэлектронная и ОЖЕ-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела |
| title_sort | рентгенофотоэлектронная и оже-спектроскопия в исследованиях поверхности твердого тела |
| topic | Теория химического строения и реакционной способности поверхности. Моделирование процессов на поверхности |
| topic_facet | Теория химического строения и реакционной способности поверхности. Моделирование процессов на поверхности |
| url | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/148506 |
| work_keys_str_mv | AT terebinskaâmi rentgenofotoélektronnaâiožespektroskopiâvissledovaniâhpoverhnostitverdogotela AT tkačukoi rentgenofotoélektronnaâiožespektroskopiâvissledovaniâhpoverhnostitverdogotela AT lobanovvv rentgenofotoélektronnaâiožespektroskopiâvissledovaniâhpoverhnostitverdogotela AT terebinskaâmi xrayphotoelectronspectroscopyandaugerinresearchsolidsurface AT tkačukoi xrayphotoelectronspectroscopyandaugerinresearchsolidsurface AT lobanovvv xrayphotoelectronspectroscopyandaugerinresearchsolidsurface AT terebinskaâmi rentgenofotoelektronnaíožespektroskopíâvdoslídžennâhpoverhnítverdogotíla AT tkačukoi rentgenofotoelektronnaíožespektroskopíâvdoslídžennâhpoverhnítverdogotíla AT lobanovvv rentgenofotoelektronnaíožespektroskopíâvdoslídžennâhpoverhnítverdogotíla |