Problems in testing digital protective relay for immunity to intentional destructive electromagnetic impacts. Continuation of the theme

The article is the continuation of the theme highlighted in the previous article with same title. The new article evaluates the results of digital protective relays (DPR) testing for immunity to the E1 component of High-altitude Electromagnetic Pulse (HEMP)
 and to Intentional Electromagneti...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Опубліковано в:Електротехніка і електромеханіка
Дата:2015
ISSN:2074-272X
Автор: Gurevich, V.
Формат: Стаття
Мова:Англійська
Опубліковано: Інститут технічних проблем магнетизму НАН України 2015
Теми:
Онлайн доступ:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/149394
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:Problems in testing digital protective relay for immunity to intentional destructive electromagnetic impacts. Continuation of the theme / V. Gurevich // Електротехніка і електромеханіка. — 2015. — № 6. — С. 66–69. — Бібліогр.: 7 назв. — англ.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Опис
Резюме:The article is the continuation of the theme highlighted in the previous article with same title. The new article evaluates the results of digital protective relays (DPR) testing for immunity to the E1 component of High-altitude Electromagnetic Pulse (HEMP)
 and to Intentional Electromagnetic Interferences (IEMI) impacts, conducted by some independent American organizations; discusses the features of relay protection devices as well as clarifies and supplements the procedure for testing these devices. Due to
 methodology errors during the DPR tests conducted by mentioned organizations earlier, they cannot be considered as satisfactory
 and their results as meaningful. At the moment there are no reliable data on the level of DPR immunity to IDEI, which suggests
 that the test should be conducted further. Статья является продолжением темы, рассмотренной в предыдущей статье с таким же названием. В новой статье оцениваются результаты испытаний микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) на устойчивость
 к компоненту E1 электромагнитного импульса высотного ядерного взрыва (ЭМИ ЯВ) и к преднамеренным дистанционным электромагнитным воздействиям (ПДДВ), приводимые некоторыми независимыми американскими организациями; обсуждаются особенности методики их испытаний. Показано, что из-за ошибок в методологии испытаний,
 результаты, полученные упомянутыми выше организациями нельзя считать достоверными. В настоящее время нет
 никаких надежных данных об уровне устойчивости МУРЗ к ПДДВ, что указывает на необходимость проведения дополнительных испытаний.
ISSN:2074-272X