Исследование методом позитронной спектроскопии влияния интерметаллидных наночастиц на эволюцию вакансионных дефектов в сплаве Fe-Ni-Al
Методом позитронной спектроскопии изучено влияние гомогенно распределенных наноразмерных (1…8 нм) частиц выделений γ’- и обогащенной железом фаз на эволюцию вакансионных дефектов в облученном электронами Fe-Ni-Al-сплаве. Показано, что присутствие выделений в сплаве приводит к снижению накопления вак...
Saved in:
| Date: | 2010 |
|---|---|
| Main Authors: | Перминов, Д.А., Дружков, А.П., Арбузов, В.Л. |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
2010
|
| Subjects: | |
| Online Access: | https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/14990 |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Исследование методом позитронной спектроскопии влияния интерметаллидных наночастиц на эволюцию вакансионных дефектов в сплаве Fe-Ni-Al / Д.А. Перминов, А.П. Дружков, В.Л. Арбузов // Вопросы атомной науки и техники. — 2010. — № 1. — С. 96-103. — Бібліогр.: 19 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSimilar Items
-
Особенности формирования интерметаллидных выделений в сплаве Fe-Ni-Ti при радиационном и термическом старении
by: Шальнов, К.В., et al.
Published: (2000) -
Локализованная деформация в аустенитных нержавеющих сталях – материалах чехлов ТВС реактора БН-350, облученных до высоких повреждающих доз
by: Максимкин, О.П., et al.
Published: (2012) -
Исследование коррозионной стойкости графитов под облучением электронами в потоке кислорода при температурах 600…800 ºС
by: Зеленский, В.Ф., et al.
Published: (2013) -
Коррозионная стойкость алюминиевого сплава САВ-1 после эксплуатации в активной зоне реактора ВВР-К и хранения в водном бассейне
by: Максимкин, О.П., et al.
Published: (2010) -
The electron accelerator for technological purposes with a secondary-emission electron source as the basis
by: Dovbnya, A.N., et al.
Published: (2007)