Gritcov, S., Sorokin, G., & Shestacova, T. (2018). Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory. Технология и конструирование в электронной аппаратуре.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Gritcov, S.S, G.F Sorokin, und T.V Shestacova. "Pseudo-ring Tests Resolution for Dynamic Single Faults in Word-oriented Memory." Технология и конструирование в электронной аппаратуре 2018.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Gritcov, S.S, et al. "Pseudo-ring Tests Resolution for Dynamic Single Faults in Word-oriented Memory." Технология и конструирование в электронной аппаратуре, 2018.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.