Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory

• Veröffentlicht in: Технология и конструирование в электронной аппаратуре
• Datum: 2018
• Hauptverfasser: Gritcov, S.S., Sorokin, G.F., Shestacova, T.V.
• Format: Artikel
• Sprache: English
• Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2018
• Schlagworte: Современные электронные технологии
• Online Zugang: https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150282
• Назва журналу: Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
• Zitieren: Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory / S.S. Gritcov, G.F. Sorokin, T.V. Shestacova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2018. — № 5-6. — С. 3-9. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.

This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution determination results for pseudo-ring tests in relation to these faults in the word-oriented memory. Also, a comparative analysis of the pseudo-ring tests with known March tests is done. The results show that pseudo-ring tests with an algorithmic complexity of (30—60)N, where N is the number of all memory cells, can cover from 75 to 100% of all single dynamic faults. This advantage allows using pseudo-ring tests as an alternative to existing classical and March tests. В данной работе представлены одиночные динамические неисправности цифровой памяти и методы их обнаружения. Детально рассмотрены такие динамические неисправности, как динамическое разрушающее чтение (dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамическое мнимое разрушающее чтение (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) и динамическое некорректное чтение (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF). У даній роботі представлені одиночні динамічні несправності цифрової пам’яті і методи їхнього виявлення. Детально розглянуто такі динамічні несправності, як динамічне руйнувальне читання (Dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамічне уявне руйнуюче читання (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) і динамічне некоректне читання (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF) .