Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory

This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution dete...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Published in:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Date:2018
Main Authors: Gritcov, S.S., Sorokin, G.F., Shestacova, T.V.
Format: Article
Language:English
Published: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2018
Subjects:
Online Access:https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150282
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory / S.S. Gritcov, G.F. Sorokin, T.V. Shestacova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2018. — № 5-6. — С. 3-9. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id nasplib_isofts_kiev_ua-123456789-150282
record_format dspace
spelling Gritcov, S.S.
Sorokin, G.F.
Shestacova, T.V.
2019-04-03T18:54:25Z
2019-04-03T18:54:25Z
2018
Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory / S.S. Gritcov, G.F. Sorokin, T.V. Shestacova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2018. — № 5-6. — С. 3-9. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.
2225-5818
DOI: 10.15222/TKEA2018.5-6.03
https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150282
004.33
This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution determination results for pseudo-ring tests in relation to these faults in the word-oriented memory. Also, a comparative analysis of the pseudo-ring tests with known March tests is done. The results show that pseudo-ring tests with an algorithmic complexity of (30—60)N, where N is the number of all memory cells, can cover from 75 to 100% of all single dynamic faults. This advantage allows using pseudo-ring tests as an alternative to existing classical and March tests.
В данной работе представлены одиночные динамические неисправности цифровой памяти и методы их обнаружения. Детально рассмотрены такие динамические неисправности, как динамическое разрушающее чтение (dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамическое мнимое разрушающее чтение (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) и динамическое некорректное чтение (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF).
У даній роботі представлені одиночні динамічні несправності цифрової пам’яті і методи їхнього виявлення. Детально розглянуто такі динамічні несправності, як динамічне руйнувальне читання (Dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамічне уявне руйнуюче читання (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) і динамічне некоректне читання (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF) .
en
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Современные электронные технологии
Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
Обнаруживающая способность псевдокольцевых тестов по отношению к динамическим одиночным неисправностям в словоориентированной памяти
Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
Article
published earlier
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
title Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
spellingShingle Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
Gritcov, S.S.
Sorokin, G.F.
Shestacova, T.V.
Современные электронные технологии
title_short Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
title_full Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
title_fullStr Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
title_full_unstemmed Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
title_sort pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory
author Gritcov, S.S.
Sorokin, G.F.
Shestacova, T.V.
author_facet Gritcov, S.S.
Sorokin, G.F.
Shestacova, T.V.
topic Современные электронные технологии
topic_facet Современные электронные технологии
publishDate 2018
language English
container_title Технология и конструирование в электронной аппаратуре
publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
format Article
title_alt Обнаруживающая способность псевдокольцевых тестов по отношению к динамическим одиночным неисправностям в словоориентированной памяти
Здатнiсть псевдокiльцевих тестiв виявляти динамiчнi одиночнi несправностi у словоорiєнтованiй пам’ятi
description This paper presents single dynamic faults and methods for their detection. Such dynamic faults as dRDF, dDRDF and dIRF are considered in detail. Also, pseudo-ring testing and the principles of single dynamic faults detecting by pseudo-ring tests are considered. The paper presents the resolution determination results for pseudo-ring tests in relation to these faults in the word-oriented memory. Also, a comparative analysis of the pseudo-ring tests with known March tests is done. The results show that pseudo-ring tests with an algorithmic complexity of (30—60)N, where N is the number of all memory cells, can cover from 75 to 100% of all single dynamic faults. This advantage allows using pseudo-ring tests as an alternative to existing classical and March tests. В данной работе представлены одиночные динамические неисправности цифровой памяти и методы их обнаружения. Детально рассмотрены такие динамические неисправности, как динамическое разрушающее чтение (dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамическое мнимое разрушающее чтение (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) и динамическое некорректное чтение (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF). У даній роботі представлені одиночні динамічні несправності цифрової пам’яті і методи їхнього виявлення. Детально розглянуто такі динамічні несправності, як динамічне руйнувальне читання (Dynamic Read Destructive Fault — dRDF), динамічне уявне руйнуюче читання (dynamic Deceptive Read Destructive Fault — dDRDF) і динамічне некоректне читання (dynamic Incorrect Read Fault — dIRF) .
issn 2225-5818
url https://nasplib.isofts.kiev.ua/handle/123456789/150282
citation_txt Pseudo-ring tests resolution for dynamic single faults in word-oriented memory / S.S. Gritcov, G.F. Sorokin, T.V. Shestacova // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2018. — № 5-6. — С. 3-9. — Бібліогр.: 15 назв. — англ.
work_keys_str_mv AT gritcovss pseudoringtestsresolutionfordynamicsinglefaultsinwordorientedmemory
AT sorokingf pseudoringtestsresolutionfordynamicsinglefaultsinwordorientedmemory
AT shestacovatv pseudoringtestsresolutionfordynamicsinglefaultsinwordorientedmemory
AT gritcovss obnaruživaûŝaâsposobnostʹpsevdokolʹcevyhtestovpootnošeniûkdinamičeskimodinočnymneispravnostâmvslovoorientirovannoipamâti
AT sorokingf obnaruživaûŝaâsposobnostʹpsevdokolʹcevyhtestovpootnošeniûkdinamičeskimodinočnymneispravnostâmvslovoorientirovannoipamâti
AT shestacovatv obnaruživaûŝaâsposobnostʹpsevdokolʹcevyhtestovpootnošeniûkdinamičeskimodinočnymneispravnostâmvslovoorientirovannoipamâti
AT gritcovss zdatnistʹpsevdokilʹcevihtestivviâvlâtidinamičniodinočninespravnostiuslovooriêntovaniipamâti
AT sorokingf zdatnistʹpsevdokilʹcevihtestivviâvlâtidinamičniodinočninespravnostiuslovooriêntovaniipamâti
AT shestacovatv zdatnistʹpsevdokilʹcevihtestivviâvlâtidinamičniodinočninespravnostiuslovooriêntovaniipamâti
first_indexed 2025-12-07T20:31:44Z
last_indexed 2025-12-07T20:31:44Z
_version_ 1850882920667938817